| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-21页 |
| ·研究的目的和意义 | 第10页 |
| ·SCB火工品简介及国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·SCB火工品简介 | 第10-11页 |
| ·SCB静电放电及防护国内研究现状 | 第11-12页 |
| ·SCB静电放电及防护国外研究现状 | 第12-14页 |
| ·半导体桥静电作用的理论模拟 | 第14-16页 |
| ·Ansoft Maxwell软件的简要介绍 | 第15页 |
| ·三维静电场的使用 | 第15-16页 |
| ·气体和固体介质的电气特性 | 第16-19页 |
| ·气体中带电质点的产生与消失 | 第16-17页 |
| ·气体间隙的击穿 | 第17-18页 |
| ·液体介质的击穿 | 第18页 |
| ·固体介质的击穿 | 第18-19页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第19-21页 |
| 2 标准半导体桥火工品静电损伤规律研究 | 第21-37页 |
| ·标准SCB火工品(LTNR)静电作用前后性能对比 | 第22-30页 |
| ·静电作用前后电阻变化规律 | 第22-24页 |
| ·50%发火电压、点火能量、点火时间的对比 | 第24-25页 |
| ·恒流源激励下安全电流测试 | 第25-28页 |
| ·I-V曲线变化规律 | 第28-30页 |
| ·标准SCB火工品(NHA)静电作用前后性能对比 | 第30-33页 |
| ·静电作用前后电阻变化规律 | 第30-31页 |
| ·恒流源激励下安全电流测试 | 第31-33页 |
| ·不同药剂的对比研究 | 第33-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 3 微型半导体桥火工品静电损伤规律研究 | 第37-46页 |
| ·微型SCB火工品(LTNR)静电作用前后性能对比 | 第37-44页 |
| ·静电作用前后电阻变化规律 | 第37-40页 |
| ·50%发火电压、点火能量、点火时间的对比 | 第40-42页 |
| ·性能劣化阈值的判定 | 第42-43页 |
| ·I-V曲线变化规律 | 第43-44页 |
| ·标准半导体桥火工品与微型半导体桥火工品的对比 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 4 半导体桥静电放电脚-壳间模拟结果及击穿机理探讨 | 第46-56页 |
| ·半导体桥脚-壳间模拟 | 第46-52页 |
| ·Ansoft Maxwell软件参数设置 | 第46-47页 |
| ·半导体桥脚-壳间模拟结果分析 | 第47-52页 |
| ·半导体桥火工品脚-壳间击穿机理探讨 | 第52-54页 |
| ·半导体桥火工品脚-壳间击穿实验 | 第52-54页 |
| ·半导体桥火工品脚-壳间击穿机理探讨 | 第54页 |
| ·小结 | 第54-56页 |
| 5 电路仿真工具PSPICE在SCB电路模拟中的应用 | 第56-61页 |
| ·PSPICE的基本组成 | 第56-57页 |
| ·半导体桥特性及其电气模型 | 第57-59页 |
| ·半导体桥简单模型的探讨 | 第59页 |
| ·小结 | 第59-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录 | 第67-72页 |
