| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-26页 |
| ·钛酸钡及其主要化学指标 | 第9-11页 |
| ·X 荧光光谱法的基本原理 | 第11-12页 |
| ·X 射线的产生及X 射线光谱 | 第11页 |
| ·X 荧光的产生 | 第11-12页 |
| ·X 荧光光谱法的定量分析 | 第12-14页 |
| ·基体效应 | 第12-13页 |
| ·X 荧光光谱分析的定量方法 | 第13-14页 |
| ·能量色散（EDXRF）与波长色散（WDXRF）X 荧光分析 | 第14-17页 |
| ·能量色散型X 荧光光谱仪与波长色散型X 荧光光谱仪的比较 | 第15页 |
| ·能量色散X 荧光分析（EDXRF）的基本原理 | 第15-16页 |
| ·能量色散X 荧光分析系统 | 第16-17页 |
| ·X 荧光光谱分析中试样的制备 | 第17-20页 |
| ·粉末样品的主要误差来源 | 第17-18页 |
| ·试样的制备 | 第18-19页 |
| ·标准样品的制备 | 第19-20页 |
| ·粉末压片X 荧光光谱法的进展 | 第20-23页 |
| ·粉末样品制备方法的进展 | 第21-22页 |
| ·粉末压片X 荧光光谱法的应用进展 | 第22-23页 |
| ·铝、硅的检测方法研究进展 | 第23页 |
| ·本课题研究的内容及其意义 | 第23-26页 |
| ·立题依据 | 第23-24页 |
| ·研究内容 | 第24-26页 |
| 第二章 能量色散X 射线荧光法测定钛酸钡中钡、钛、铁、锶 | 第26-47页 |
| ·制样方法的研究 | 第26-29页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·试验方法 | 第26页 |
| ·结果与分析 | 第26-29页 |
| ·校准样品制备的研究 | 第29-33页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·试验方法 | 第29-30页 |
| ·试验结果与讨论 | 第30-33页 |
| ·X 荧光测量条件的选择 | 第33-37页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·分析线的选择 | 第33页 |
| ·管电压管电流的选择 | 第33-34页 |
| ·初级滤光片的选择 | 第34-36页 |
| ·测定气氛的选择 | 第36-37页 |
| ·校准曲线的绘制 | 第37-42页 |
| ·引言 | 第37-39页 |
| ·试验方法 | 第39页 |
| ·试验结果及讨论 | 第39-42页 |
| ·X 射线强度的标准化 | 第42页 |
| ·电子级钛酸钡主要化学指标的测定 | 第42-46页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·方法的精密度评价 | 第42-43页 |
| ·方法的准确度评价 | 第43-45页 |
| ·检测限 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第三章 钛酸钡中硅和铝萃取分光光度法的连续测定 | 第47-61页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·试验试剂及仪器 | 第47-48页 |
| ·材料与试剂 | 第47-48页 |
| ·试验仪器 | 第48页 |
| ·硅和铝显色及萃取条件的研究 | 第48-57页 |
| ·溶液配制 | 第48-49页 |
| ·试验方法 | 第49页 |
| ·试验结果与讨论 | 第49-57页 |
| ·样品测定 | 第57-60页 |
| ·试验步骤 | 第57页 |
| ·试验结果与讨论 | 第57-59页 |
| ·方法准确度和精密度评价 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第四章 结论 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第67页 |
