微电子产品视觉检测中关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 第1章 绪 论 | 第14-31页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第14-15页 |
| ·机器视觉技术综述 | 第15-18页 |
| ·微电子产品检测技术综述 | 第18-22页 |
| ·PCB 检测技术综述 | 第18-20页 |
| ·IC 芯片检测技术概述 | 第20-22页 |
| ·微电子产品自动视觉检测技术综述 | 第22-29页 |
| ·自动视觉检测的基本原理 | 第23页 |
| ·电路板视觉检测常见缺陷及检测算法 | 第23-24页 |
| ·自动视觉检测技术国内外现状及分析 | 第24-29页 |
| ·课题来源及主要研究内容 | 第29-31页 |
| ·课题来源 | 第29页 |
| ·论文主要研究内容 | 第29-31页 |
| 第2章 自动视觉检测系统的总体设计 | 第31-43页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·自动视觉检测系统原理与组成 | 第31-37页 |
| ·精密机械系统 | 第33-34页 |
| ·CCD 图像采集系统 | 第34-36页 |
| ·电气控制系统 | 第36-37页 |
| ·自动视觉检测方案 | 第37-39页 |
| ·自动视觉检测系统的检测流程 | 第37-39页 |
| ·软件系统 | 第39页 |
| ·系统样机测试实验 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第3章 基于优势遗传的自适应遗传算法研究 | 第43-60页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·遗传算法基本原理 | 第43-46页 |
| ·模式定理 | 第46-50页 |
| ·模式 | 第46页 |
| ·模式阶和定义距 | 第46-47页 |
| ·模式定理 | 第47-50页 |
| ·优势遗传自适应算法研究与设计 | 第50-54页 |
| ·自适应遗传算法的研究 | 第50-53页 |
| ·优势遗传自适应算法 | 第53-54页 |
| ·实验结果与分析 | 第54-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第4章 定位标志精确定位技术研究 | 第60-75页 |
| ·引言 | 第60页 |
| ·基于点Hough 变换的圆亚像素定位算法 | 第60-69页 |
| ·点Hough 变换的基本原理 | 第60-62页 |
| ·滤除边缘点中噪声点 | 第62页 |
| ·亚像素细分 | 第62页 |
| ·亚像素边缘点拟合 | 第62-65页 |
| ·实验结果与分析 | 第65-69页 |
| ·基于优势遗传的快速匹配定位算法 | 第69-74页 |
| ·图像重采样 | 第70页 |
| ·灰度投影法匹配规则 | 第70-71页 |
| ·优势遗传的快速匹配 | 第71页 |
| ·十字线中心的精确定位 | 第71-72页 |
| ·实验结果及分析 | 第72-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第5章 图像拼接技术研究 | 第75-84页 |
| ·引言 | 第75页 |
| ·图像拼接的基本原理和分类 | 第75-78页 |
| ·基于基准位置的图像拼接 | 第78-80页 |
| ·实验结果与分析 | 第80-82页 |
| ·本章小结 | 第82-84页 |
| 第6章 缺陷的检出与识别技术研究 | 第84-118页 |
| ·引言 | 第84-87页 |
| ·缺陷区域的检出 | 第87-92页 |
| ·图像滤波 | 第87-90页 |
| ·图像配准 | 第90页 |
| ·图像差分 | 第90-92页 |
| ·缺陷区域的检出 | 第92页 |
| ·基于PCA 的缺陷图像特征提取 | 第92-100页 |
| ·PCA 的基本原理 | 第93-95页 |
| ·缺陷图像的归一化 | 第95-98页 |
| ·PCA 缺陷图像特征提取 | 第98-100页 |
| ·基于支持向量机的缺陷分类 | 第100-111页 |
| ·SVM 的基本原理 | 第101-106页 |
| ·构建SVM 多类分类器 | 第106-111页 |
| ·实验与结果分析 | 第111-117页 |
| ·不同方法实验结果 | 第111-116页 |
| ·实验结果与分析 | 第116-117页 |
| ·本章小结 | 第117-118页 |
| 结论 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-129页 |
| 附录 | 第129-130页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第130-131页 |
| 哈尔滨工业大学博士学位论文原创性声明 | 第131页 |
| 哈尔滨工业大学硕士学位论文使用授权书 | 第131页 |
| 哈尔滨工业大学硕士学位涉密论文管理 | 第131-132页 |
| 致谢 | 第132-133页 |
| 个人简历 | 第133页 |
