| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| ·课题来源、背景及意义 | 第7-9页 |
| ·国内外电子设备结构动力响应研究概况 | 第9-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 电子设备及其振动环境 | 第14-25页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·电子设备的特点及分类 | 第14-16页 |
| ·电子设备的特点 | 第14-15页 |
| ·电子设备的分类 | 第15-16页 |
| ·电子设备结构类型及其典型特征 | 第16-21页 |
| ·电子设备结构的基本类型及组成 | 第17-19页 |
| ·电子设备结构的典型特征 | 第19-21页 |
| ·电子设备的振动环境 | 第21-24页 |
| ·振动环境的分类 | 第22-23页 |
| ·振动环境对电子设备的破坏作用 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第三章 电子设备结构动力响应理论及其有限元仿真技术 | 第25-43页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·电子设备结构动力响应分析相关理论 | 第25-34页 |
| ·电子设备结构固有特性分析理论 | 第25-27页 |
| ·电子设备结构冲击响应分析理论 | 第27-29页 |
| ·电子设备随机振动响应分析理论 | 第29-34页 |
| ·电子设备结构动力响应的有限元仿真技术 | 第34-41页 |
| ·有限元分析的一般步骤 | 第34-37页 |
| ·ANSYS 用于电子设备结构动力响应分析的可行性 | 第37-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 第四章 电子设备结构动力有限元分析中的关键技术 | 第43-58页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·典型电子设备装配结构有限元建模 | 第43-50页 |
| ·印制板及其典型固定方式有限元建模 | 第43-45页 |
| ·串列式屏蔽盒结构有限元建模 | 第45-50页 |
| ·电子设备冲击振动和随机振动试验环境在仿真中的实现 | 第50-57页 |
| ·冲击试验环境在仿真中的实现 | 第51-56页 |
| ·随机振动试验环境在仿真中的实现 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 电子设备结构动力响应计算与结果分析 | 第58-74页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·分析对象 | 第58-60页 |
| ·几何模型 | 第58-59页 |
| ·有限元网格模型 | 第59-60页 |
| ·固有特性计算与结果分析 | 第60-63页 |
| ·模型的约束 | 第60-61页 |
| ·模型的固有频率及其振型 | 第61-63页 |
| ·随机振动响应计算与结果分析 | 第63-68页 |
| ·随机振动激励 | 第63-64页 |
| ·功率谱密度响应结果及分析 | 第64-65页 |
| ·位移、应力和应变标准差分布及分析 | 第65-68页 |
| ·冲击响应计算与结果分析 | 第68-72页 |
| ·冲击激励 | 第68页 |
| ·位移、应力和应变的时域响应结果及分析 | 第68-71页 |
| ·位移、应力和应变的分布及分析 | 第71-72页 |
| ·小结 | 第72-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| ·总结 | 第74-75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 在读期间的研究成果 | 第80页 |
