| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 前言 | 第9-10页 |
| 主要符号表 | 第10-11页 |
| 1 概述 | 第11-15页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·当前国内外单元电路测试技术概述 | 第12-14页 |
| ·常用测试方法 | 第12-13页 |
| ·部分测试方法比较及应用前景分析 | 第13-14页 |
| ·本论文的研究内容 | 第14-15页 |
| 2 专用单元电路自动测试系统技术 | 第15-28页 |
| ·嵌入式系统的测试技术和方法 | 第15页 |
| ·边界扫描测试技术和JTAG接口 | 第15-16页 |
| ·单元电路在线测试技术 | 第16-19页 |
| ·在线测试的目的和意义 | 第16-17页 |
| ·在线测试的理论依据 | 第17-18页 |
| ·在线测试的主要故障诊断功能 | 第18-19页 |
| ·单元电路功能测试技术 | 第19-21页 |
| ·功能测试的目的和特点 | 第20页 |
| ·功能测试的一般方法 | 第20-21页 |
| ·针床和飞针测试方法 | 第21-23页 |
| ·针床测试 | 第21-22页 |
| ·飞针测试 | 第22-23页 |
| ·电源纹波测试技术 | 第23-27页 |
| ·谐波测量理论研究 | 第24-25页 |
| ·用示波器测量开关电源纹波的方法 | 第25-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 3 BATMAN专用单元电路自动测试系统的研究与开发 | 第28-52页 |
| ·BATMAN专用单元电路的组成与测试要求 | 第28-30页 |
| ·BATMAN专用单元电路的组成 | 第28页 |
| ·BATMAN专用单元电路的测试要求 | 第28-29页 |
| ·BATMAN专用单元电路测试的技术难点 | 第29-30页 |
| ·对BATMAN单元电路进行测试的现状及存在的问题 | 第30页 |
| ·现状 | 第30页 |
| ·存在的问题 | 第30页 |
| ·BATMAN专用单元电路自动测试系统的方案设计 | 第30-34页 |
| ·系统组成 | 第30-31页 |
| ·电源纹波的测试 | 第31-33页 |
| ·电源系统的设计 | 第33-34页 |
| ·硬件电路与单片机程序 | 第34-40页 |
| ·硬件电路 | 第34-37页 |
| ·单片机程序设计 | 第37-40页 |
| ·上层软件设计 | 第40-44页 |
| ·主界面的实现 | 第41页 |
| ·子功能 | 第41-44页 |
| ·系统通信 | 第44-51页 |
| ·测试台与上位机的通信 | 第44-47页 |
| ·测试台与被测系统的通信 | 第47-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 4 测试及结果分析 | 第52-63页 |
| ·测试过程 | 第52-55页 |
| ·对BATMAN被测系统主板的测试 | 第52-55页 |
| ·对BATMAN被测系统接口板的测试 | 第55页 |
| ·测试操作及其数据 | 第55-62页 |
| ·相关测试操作分析 | 第55-59页 |
| ·EEPROM中的测试数据及相关分析 | 第59-61页 |
| ·用实时采样法得到的电源纹波电压部分数据 | 第61-62页 |
| ·电源纹波测试比对数据 | 第62页 |
| ·测试结果分析 | 第62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| 5 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·实用效果 | 第63页 |
| ·总结 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录A:电路原理图 | 第68-77页 |
| 附录B:单片机子程序框图 | 第77-81页 |
| 附录C:测试台照片 | 第81-83页 |
| 附录D:在校学习其间所发表的论文、编著和主持的科研等 | 第83页 |
