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专用单元电路自动测试系统设计及技术研究

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
前言第9-10页
主要符号表第10-11页
1 概述第11-15页
   ·研究背景第11-12页
   ·当前国内外单元电路测试技术概述第12-14页
     ·常用测试方法第12-13页
     ·部分测试方法比较及应用前景分析第13-14页
   ·本论文的研究内容第14-15页
2 专用单元电路自动测试系统技术第15-28页
   ·嵌入式系统的测试技术和方法第15页
   ·边界扫描测试技术和JTAG接口第15-16页
   ·单元电路在线测试技术第16-19页
     ·在线测试的目的和意义第16-17页
     ·在线测试的理论依据第17-18页
     ·在线测试的主要故障诊断功能第18-19页
   ·单元电路功能测试技术第19-21页
     ·功能测试的目的和特点第20页
     ·功能测试的一般方法第20-21页
   ·针床和飞针测试方法第21-23页
     ·针床测试第21-22页
     ·飞针测试第22-23页
   ·电源纹波测试技术第23-27页
     ·谐波测量理论研究第24-25页
     ·用示波器测量开关电源纹波的方法第25-27页
   ·小结第27-28页
3 BATMAN专用单元电路自动测试系统的研究与开发第28-52页
   ·BATMAN专用单元电路的组成与测试要求第28-30页
     ·BATMAN专用单元电路的组成第28页
     ·BATMAN专用单元电路的测试要求第28-29页
     ·BATMAN专用单元电路测试的技术难点第29-30页
   ·对BATMAN单元电路进行测试的现状及存在的问题第30页
     ·现状第30页
     ·存在的问题第30页
   ·BATMAN专用单元电路自动测试系统的方案设计第30-34页
     ·系统组成第30-31页
     ·电源纹波的测试第31-33页
     ·电源系统的设计第33-34页
   ·硬件电路与单片机程序第34-40页
     ·硬件电路第34-37页
     ·单片机程序设计第37-40页
   ·上层软件设计第40-44页
     ·主界面的实现第41页
     ·子功能第41-44页
   ·系统通信第44-51页
     ·测试台与上位机的通信第44-47页
     ·测试台与被测系统的通信第47-51页
   ·小结第51-52页
4 测试及结果分析第52-63页
   ·测试过程第52-55页
     ·对BATMAN被测系统主板的测试第52-55页
     ·对BATMAN被测系统接口板的测试第55页
   ·测试操作及其数据第55-62页
     ·相关测试操作分析第55-59页
     ·EEPROM中的测试数据及相关分析第59-61页
     ·用实时采样法得到的电源纹波电压部分数据第61-62页
     ·电源纹波测试比对数据第62页
   ·测试结果分析第62页
   ·小结第62-63页
5 总结与展望第63-65页
   ·实用效果第63页
   ·总结第63页
   ·展望第63-65页
致谢第65-66页
参考文献第66-68页
附录A:电路原理图第68-77页
附录B:单片机子程序框图第77-81页
附录C:测试台照片第81-83页
附录D:在校学习其间所发表的论文、编著和主持的科研等第83页

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