| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·课题研究背景及研究意义 | 第9-10页 |
| ·棒形瓷绝缘子的发展历史及应用前景 | 第10-12页 |
| ·棒形瓷绝缘子发展史 | 第10-11页 |
| ·棒形瓷绝缘子在我国的应用前景 | 第11-12页 |
| ·棒形瓷绝缘子的强度评价方法 | 第12-13页 |
| ·材料力学方法 | 第12-13页 |
| ·断裂力学方法 | 第13页 |
| ·绝缘子检测方法 | 第13-15页 |
| ·非接触式检测法 | 第14页 |
| ·接触式检测法 | 第14-15页 |
| ·主要研究内容及试验分析过程 | 第15-16页 |
| ·课题主要研究内容 | 第15页 |
| ·试验分析过程 | 第15-16页 |
| 第二章 陶瓷材料的性能特点及绝缘子劣化的原因 | 第16-27页 |
| ·陶瓷材料的力学性能 | 第16-20页 |
| ·陶瓷材料的弹性变形及抗力指标 | 第16页 |
| ·陶瓷材料的塑性变形及抗力指标 | 第16页 |
| ·陶瓷材料的断裂韧性 | 第16-17页 |
| ·陶瓷材料强度的尺寸效应 | 第17-18页 |
| ·陶瓷的疲劳 | 第18-20页 |
| ·陶瓷的物理性能 | 第20-21页 |
| ·绝缘子的性能要求 | 第21-22页 |
| ·瓷绝缘子的制造工艺流程 | 第21页 |
| ·绝缘子的性能要求 | 第21-22页 |
| ·瓷绝缘子的劣化原因 | 第22-27页 |
| ·瓷绝缘子的失效特征 | 第22-23页 |
| ·瓷绝缘子的劣化原因 | 第23-27页 |
| 第三章 棒型悬式瓷绝缘子强度评价 | 第27-37页 |
| ·分析前的基本假设条件 | 第27页 |
| ·110kV 棒形悬式瓷绝缘子受力分析计算 | 第27-30页 |
| ·瓷绝缘子及连接导线的选取 | 第27页 |
| ·安全系数的选取 | 第27-28页 |
| ·绝缘子受力计算 | 第28-29页 |
| ·绝缘子强度校核 | 第29-30页 |
| ·110kV 棒形悬式瓷绝缘子温度结构应力分析过程 | 第30-35页 |
| ·材料参数的选取 | 第30页 |
| ·有限元模型的建立 | 第30-31页 |
| ·胶装部位网格的划分 | 第31页 |
| ·边界条件及温度载荷的施加 | 第31页 |
| ·分析结果讨论 | 第31-35页 |
| ·110kV 棒形悬式瓷绝缘子最小临界裂纹尺寸的确定 | 第35-37页 |
| 第四章 爬波基本理论及爬波检测在无损评价领域的应用 | 第37-43页 |
| ·爬波的产生 | 第37-38页 |
| ·爬波的特性 | 第38-39页 |
| ·爬波的声压分布 | 第38页 |
| ·爬波的衰减规律 | 第38-39页 |
| ·爬波的波速 | 第39页 |
| ·爬波探头 | 第39-40页 |
| ·双晶爬波探头 | 第39-40页 |
| ·单晶爬波探头 | 第40页 |
| ·爬波探头性能参数 | 第40页 |
| ·爬波检测缺陷的定性与定位 | 第40-41页 |
| ·缺陷的定性 | 第40-41页 |
| ·缺陷的定位 | 第41页 |
| ·爬波检测的特点和爬波检测在无损评价领域的应用 | 第41-43页 |
| ·爬波检测的特点 | 第41-42页 |
| ·爬波检测在无损评价领域的应用 | 第42-43页 |
| 第五章 爬波检测棒型悬式瓷绝缘子 | 第43-48页 |
| ·爬波检测棒型悬式瓷绝缘子的依据 | 第43-44页 |
| ·爬波检测电瓷材料依据 | 第43-44页 |
| ·爬波检测瓷绝缘子可行性分析 | 第44页 |
| ·专用试块的制作 | 第44页 |
| ·探伤仪的选择与爬波探头的研制 | 第44-45页 |
| ·耦合剂的选择 | 第45页 |
| ·扫描速度和灵敏度的调整 | 第45页 |
| ·探伤操作步骤 | 第45-48页 |
| ·双晶爬波探头探伤操作步骤 | 第45-47页 |
| ·单晶爬波探头探伤操作步骤 | 第47-48页 |
| 第六章 结论 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-53页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
