| 目录 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-8页 |
| 第二章 文献综述 | 第8-36页 |
| ·前言 | 第8页 |
| ·纳米粉体的定义和性质 | 第8-10页 |
| ·纳米粉体的定义 | 第8页 |
| ·纳米粉体的性质 | 第8-10页 |
| ·纳米粉体的应用 | 第10-13页 |
| ·纳米粉体制备技术简介 | 第13-22页 |
| ·固相法 | 第13-15页 |
| ·气相法 | 第15-16页 |
| ·液相法 | 第16-22页 |
| ·纳米粉体的表征方法 | 第22-26页 |
| ·导电粉体简介 | 第26-32页 |
| ·金属粉末 | 第26-28页 |
| ·石墨 | 第28页 |
| ·结构型高分子材料 | 第28-29页 |
| ·金属氧化物 | 第29-32页 |
| ·立题依据 | 第32页 |
| 本章参考文献 | 第32-36页 |
| 第三章 样品制备和表征方法 | 第36-41页 |
| ·实验原料 | 第36页 |
| ·实验设备与器材 | 第36页 |
| ·试样制备过程 | 第36-37页 |
| ·掺杂Sb的反应溶液的配制 | 第36-37页 |
| ·超声分散的应用 | 第37页 |
| ·水热反应过程 | 第37页 |
| ·后处理过程 | 第37页 |
| ·测试方法 | 第37-41页 |
| ·晶体结构和品粒大小的测定 | 第37-39页 |
| ·粉体粒度大小的测定 | 第39页 |
| ·粉体热性能的测定 | 第39-40页 |
| ·粉体电学性能的测定 | 第40-41页 |
| 第四章 Sb掺杂量对粉体粒度和导电性能的影响 | 第41-50页 |
| ·不同Sb掺杂量对粉体粒度的影响 | 第41-43页 |
| ·不同Sb掺杂量粉体的XRD图谱和晶粒度 | 第41-43页 |
| ·不同Sb掺杂量粉体的透射电镜分析和颗粒度 | 第43页 |
| ·不同Sb掺杂量对粉体导电性能的影响 | 第43-48页 |
| ·粉体导电性能的分析 | 第43-46页 |
| ·不同Sb掺杂量粉体的导电性能 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 本章参考文献 | 第49-50页 |
| 第五章 热处理温度和时间对粉体粒度和导电性能的影响 | 第50-62页 |
| ·不同热处理温度对粉体粒度的影响 | 第50-53页 |
| ·不同热处理温度粉体的XRD图谱和晶粒度 | 第50页 |
| ·晶体生长曲线的拟合和晶核生长活化能 | 第50-53页 |
| ·不同热处理温度粉体的透射电镜分析和颗粒度 | 第53页 |
| ·不同热处理温度对粉体导电性能的影响 | 第53-55页 |
| ·不同热处理温度粉体的导电性能 | 第53-55页 |
| ·粉体的DSC-TG曲线及分析 | 第55页 |
| ·不同热处理时间下粉体的XRD图谱和晶粒度 | 第55-60页 |
| ·不同热处理时间对粉体导电性能的影响 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 本章参考文献 | 第61-62页 |
| 第六章 反应温度和压力、超声分散工艺对粉体粒度和导电性能的影响 | 第62-66页 |
| ·反应温度和压力对粉体粒度和导电性能的影响 | 第62-63页 |
| ·超声分散工艺对粉体粒度和导电性能的影响 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64页 |
| 本章参考文献 | 第64-66页 |
| 第七章 结论 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68页 |