单晶硅电池片的几何测量与缺陷检测系统设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景 | 第10-12页 |
| ·研究现状 | 第12-13页 |
| ·研究意义 | 第13-14页 |
| ·研究内容 | 第14-15页 |
| ·本文结构 | 第15-16页 |
| 第2章 基础知识概述 | 第16-26页 |
| ·单晶硅电池片外形结构 | 第16页 |
| ·缺陷对电池的影响 | 第16-17页 |
| ·图像处理技术 | 第17-24页 |
| ·图像平滑处理 | 第17-19页 |
| ·图像锐化处理 | 第19-21页 |
| ·边缘检测 | 第21-23页 |
| ·形态学运算 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 第3章 系统设计方案 | 第26-33页 |
| ·整体系统设计 | 第26-27页 |
| ·工业相机的选型 | 第27-29页 |
| ·图像传感器 | 第27-28页 |
| ·镜头 | 第28-29页 |
| ·数字化 I/O 接口 | 第29页 |
| ·照明光源 | 第29-30页 |
| ·计算机 | 第30页 |
| ·图像处理软件系统设计 | 第30-32页 |
| ·图像获取 | 第30-31页 |
| ·图像处理步骤 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 电池片的几何测量 | 第33-42页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·几何测量原理及测量参数 | 第33-34页 |
| ·测量偏转角度 | 第34-39页 |
| ·高斯滤波处理 | 第34-35页 |
| ·Canny 算子边缘检测 | 第35-36页 |
| ·Hough 变换检测偏转角度 | 第36-39页 |
| ·测量几何距离 | 第39-40页 |
| ·实验结果及分析 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 电池片缺陷检测 | 第42-56页 |
| ·缺陷类型、特征及成因 | 第42-43页 |
| ·Otsu 法分割图像 | 第43-45页 |
| ·孔洞缺陷检测 | 第45-49页 |
| ·开运算消除细栅线 | 第46-47页 |
| ·八邻域边界跟踪提取孔洞缺陷 | 第47-48页 |
| ·实验结果与分析 | 第48-49页 |
| ·断栅缺陷检测 | 第49-50页 |
| ·检测步骤 | 第49-50页 |
| ·实验结果与分析 | 第50页 |
| ·边缘破损检测 | 第50-52页 |
| ·检测步骤 | 第51-52页 |
| ·实验结果与分析 | 第52页 |
| ·掉角检测 | 第52-55页 |
| ·检测步骤 | 第52-55页 |
| ·实验结果与分析 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 作者简介 | 第64页 |
