低电阻、高致密二氧化锡陶瓷的制备与科学研究
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-12页 |
第一章 绪论 | 第12-21页 |
·二氧化锡的性质和及其用途 | 第12页 |
·二氧化锡电极前期发展和现状 | 第12-14页 |
·纳米SnO_2粉体的制备方法概述 | 第14-16页 |
·溶胶-凝胶法 | 第14-15页 |
·共沉淀法 | 第15页 |
·水热法 | 第15-16页 |
·胶体化学法 | 第16页 |
·醇盐法 | 第16页 |
·二氧化锡的掺杂研究进展 | 第16-19页 |
·提高导电性的掺杂研究 | 第17-18页 |
·促进烧结性能的掺杂研究 | 第18-19页 |
·课题研究的内容与难点 | 第19-21页 |
第二章 共沉淀法制备多元素掺杂SnO_2粉体 | 第21-34页 |
·实验试剂与仪器 | 第21-22页 |
·掺杂元素选择 | 第22页 |
·实验步骤 | 第22-25页 |
·Sb掺杂 | 第23页 |
·Ce掺杂 | 第23页 |
·其他元素掺杂 | 第23-24页 |
·测试方法 | 第24-25页 |
·结果与分析 | 第25-32页 |
·TG测定 | 第25-26页 |
·FT-IR测定 | 第26页 |
·XRD测定 | 第26-30页 |
·晶粒尺寸计算 | 第30-31页 |
·透射电镜分析 | 第31-32页 |
·本章小结 | 第32-34页 |
第三章 超细粉体制备SnO_2陶瓷电学性能的研究 | 第34-50页 |
·实验部分 | 第34-40页 |
·实验原料及设备 | 第34-35页 |
·实验步骤 | 第35-40页 |
·结果与分析 | 第40-47页 |
·EDS测定 | 第40-41页 |
·成型压力对电阻率的影响 | 第41-42页 |
·烧结温度对电阻率的影响 | 第42-43页 |
·配方优化 | 第43-47页 |
·掺杂导电机理 | 第47-49页 |
·Sb作用机理 | 第47-48页 |
·Ce作用机理 | 第48-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第四章 超细粉体制备SnO_2陶瓷力学性能的研究 | 第50-66页 |
·实验部分 | 第50-55页 |
·实验原料与仪器 | 第50-51页 |
·实验步骤 | 第51-52页 |
·性能测定 | 第52-55页 |
·结果与分析 | 第55-63页 |
·掺杂浓度的影响 | 第55-56页 |
·成型压力的影响 | 第56页 |
·烧结工艺的影响 | 第56-61页 |
·Ce掺杂对力学性能的影响 | 第61-63页 |
·致密化烧结机理探讨 | 第63-64页 |
·温度影响烧结机理 | 第63页 |
·Ce掺杂机理 | 第63-64页 |
·增韧机理探讨 | 第64-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第五章 结论 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-75页 |
硕士期间发表论文及专利清单 | 第75-76页 |
致谢 | 第76页 |