| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-30页 |
| ·电子陶瓷的制备工艺流程 | 第12-21页 |
| ·原料制备技术 | 第12-13页 |
| ·成型技术 | 第13-15页 |
| ·几种烧结机理 | 第15-17页 |
| ·烧结过程 | 第17-18页 |
| ·常用烧结方式 | 第18-21页 |
| ·三氧化钨基本性质及研究进展 | 第21-28页 |
| ·WO_3的基本物理性质 | 第21-24页 |
| ·WO_3的基本化学性质 | 第24-25页 |
| ·WO_3的研究现状 | 第25-28页 |
| ·本文研究的背景和意义 | 第28-29页 |
| ·本文的工作 | 第29-30页 |
| 第2章 纳米WO_3前驱体及样品的制备表征 | 第30-39页 |
| ·制备纳米三氧化钨粉末的方法 | 第30-32页 |
| ·固相反应法 | 第30页 |
| ·溶胶-凝胶法 | 第30-31页 |
| ·化学沉淀法 | 第31页 |
| ·微乳液法 | 第31页 |
| ·水热合成法 | 第31-32页 |
| ·喷雾热解法 | 第32页 |
| ·气相法 | 第32页 |
| ·纳米三氧化钨粉末及陶瓷样品的制备 | 第32-34页 |
| ·纳米三氧化钨粉末的制备 | 第32-33页 |
| ·三氧化钨陶瓷样品的制备 | 第33-34页 |
| ·样品的电学性能测试及微观结构表征 | 第34-36页 |
| ·样品的电学性能测试 | 第34-35页 |
| ·扫描电镜分析(SEM) | 第35-36页 |
| ·自制纳米三氧化钨粉末的表征 | 第36-39页 |
| ·平均粒径测定 | 第36-38页 |
| ·相结构 | 第38-39页 |
| 第3章 烧结气氛对WO_3陶瓷电学行为的影响 | 第39-46页 |
| ·显微结构 | 第39-40页 |
| ·相结构 | 第40页 |
| ·电学性能 | 第40-43页 |
| ·电流-电压特性 | 第40-41页 |
| ·介电特性 | 第41-43页 |
| ·WO_3陶瓷的导电机理 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 淬火工艺对WO_3陶瓷电学性能影响 | 第46-57页 |
| ·显微结构 | 第46-47页 |
| ·相结构 | 第47-48页 |
| ·电学性能 | 第48-55页 |
| ·电流-电压(Ⅰ-Ⅴ)特性 | 第48-50页 |
| ·阻抗分析 | 第50-53页 |
| ·样品的变温Ⅰ-Ⅴ特性 | 第53-54页 |
| ·样品的Arrhenius图 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第5章 微波和回火对WO_3陶瓷电学性能影响 | 第57-64页 |
| ·显微结构 | 第57-58页 |
| ·相结构 | 第58-59页 |
| ·微波烧结及回火的电学特性 | 第59-63页 |
| ·样品的Ⅰ-Ⅴ特性 | 第59-60页 |
| ·回火样品的阻抗 | 第60-61页 |
| ·回火样品势垒高度的计算 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第6章 纳米Gd_2O_3掺杂对WO_3陶瓷电性能影响 | 第64-71页 |
| ·显微结构 | 第64页 |
| ·相结构 | 第64-65页 |
| ·电学特性 | 第65-67页 |
| ·电流—电压(Ⅰ—Ⅴ)特性 | 第65-66页 |
| ·介电特性 | 第66页 |
| ·阻抗分析 | 第66-67页 |
| ·讨论 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第79页 |