航天器介质深层充放电特征及其影响
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-15页 |
引言 | 第15-17页 |
第一章 研究背景 | 第17-31页 |
·空间辐射环境 | 第17-24页 |
·银河宇宙线 | 第17页 |
·异常银河宇宙线 | 第17页 |
·太阳宇宙线 | 第17-18页 |
·其他来源高能粒子 | 第18-19页 |
·地球辐射带粒子 | 第19-21页 |
·高能电子增强事件 | 第21-24页 |
·空间辐射效应 | 第24-28页 |
·总剂量效应 | 第24页 |
·移位损伤效应 | 第24页 |
·粒子效应 | 第24-25页 |
·背景噪声 | 第25-26页 |
·表面充放电效应 | 第26页 |
·深层充放电效应 | 第26-28页 |
参考文献 | 第28-31页 |
第二章 深层充放电现象研究概况 | 第31-55页 |
·研究历史与现状 | 第31-32页 |
·研究历史 | 第31-32页 |
·研究现状 | 第32页 |
·在轨探测实验 | 第32-38页 |
·地面模拟实验 | 第38-45页 |
·模型与软件 | 第45-51页 |
·模型 | 第45-48页 |
·软件 | 第48-51页 |
参考文献 | 第51-55页 |
第三章 航天器介质深层充电过程的地面实验模拟 | 第55-75页 |
·卫星深层充放电模拟实验装置 | 第55-58页 |
·真空系统 | 第55-56页 |
·温控系统 | 第56页 |
·辐照源 | 第56-57页 |
·测量系统 | 第57-58页 |
·实验过程 | 第58页 |
·辐照源束流强度的监测 | 第58-61页 |
·电子枪束流强度的监测 | 第59-60页 |
·放射源束流强度的监测 | 第60-61页 |
·电位测量的标定 | 第61-63页 |
·不同辐照条件下介质的深层充电过程 | 第63-71页 |
·不同能量电子辐照下介质的充电过程 | 第63-65页 |
·不同束流强度电子辐照下介质的充电过程 | 第65-67页 |
·不同厚度介质的充电过程 | 第67-69页 |
·其它材料介质的充电过程 | 第69-70页 |
·某卫星机构的深层充电过程 | 第70-71页 |
·表面电位的衰减及电阻率的测量 | 第71-73页 |
·深层充电的一般规律总结 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-75页 |
第四章 辐射感应电导率现象 | 第75-90页 |
·辐射感应电导率现象的研究历史 | 第75-76页 |
·辐射感应电导率实验 | 第76-78页 |
·辐射感应电导率模型 | 第78-80页 |
·RFV模型 | 第78-79页 |
·RFV模型的改进 | 第79-80页 |
·改进后模型的分析与计算 | 第80-87页 |
·辐射感应电导率与辐射剂量率的指数关系 | 第80-81页 |
·辐射感应电导率的延迟效应 | 第81-82页 |
·模型与实验结果的比较分析 | 第82-87页 |
·辐射感应电导率模型总结 | 第87-88页 |
参考文献 | 第88-90页 |
第五章 深层充电现象建模与模拟 | 第90-102页 |
·深层充电模型与软件 | 第90-91页 |
·模型的建立 | 第91-93页 |
·模型的实验验证 | 第93-98页 |
·实验设计 | 第93页 |
·实验结果与模型比较 | 第93-96页 |
·内部电荷与电场分布变化 | 第96-98页 |
·深层充电平衡电位和平衡时间的计算分析 | 第98-100页 |
·深层充电模型小结 | 第100页 |
参考文献 | 第100-102页 |
第六章 航天器介质深层放电实验 | 第102-117页 |
·深层放电过程的实验测量 | 第102-106页 |
·介质表面电位的监测 | 第102-104页 |
·介质放电电流和电磁脉冲的监测 | 第104-106页 |
·深层充放电的影响 | 第106-111页 |
·深层放电对时序脉冲电路的影响 | 第106-108页 |
·深层放电对CMOS JK触发器的影响 | 第108-111页 |
·深层放电现象模拟的初步探讨 | 第111-114页 |
·介质放电路径的模拟 | 第111-112页 |
·介质放电电流的模拟 | 第112-114页 |
·深层充放电防护设想 | 第114-115页 |
·小结 | 第115-116页 |
参考文献 | 第116-117页 |
第七章 总结与展望 | 第117-119页 |
·总结 | 第117页 |
·展望 | 第117-119页 |
致谢 | 第119-120页 |
作者简介 | 第120页 |
发表文章目录 | 第120页 |