摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-12页 |
·课题背景 | 第9-10页 |
·国内外相关技术发展历史和现状 | 第10页 |
·本课题研究目的及意义 | 第10-11页 |
·本文主要研究内容 | 第11-12页 |
第2章 螺旋锥束CT三维重建介绍 | 第12-17页 |
·引言 | 第12页 |
·CT原理简介 | 第12-13页 |
·螺旋锥束CT 的Katsevich算法介绍 | 第13-14页 |
·CT三维重建系统介绍 | 第14-16页 |
·本章小结 | 第16-17页 |
第3章 PCIE协议介绍 | 第17-38页 |
·引言 | 第17页 |
·PCIE拓扑结构介绍 | 第17-22页 |
·PCIE结构的基本元素 | 第18-22页 |
·PCI Express事物介绍 | 第22-25页 |
·PCI Express事物协议 | 第23-24页 |
·PCI Express事物举例 | 第24-25页 |
·PCI Express设备层次 | 第25-37页 |
·设备层及相应的包 | 第26页 |
·PCIE设备层功能 | 第26-27页 |
·处理层数据包 | 第27-34页 |
·数据链路层数据包 | 第34-36页 |
·物理层 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第4章 基于Xilinx Virtex-5FPGA芯片的PCIE-IPCORE模块设计 | 第38-54页 |
·引言 | 第38页 |
·ISE介绍 | 第38-43页 |
·Coregenerate生成 | 第38-43页 |
·PCIE IPCore 代码分析 | 第43页 |
·应用IPCore的改进设计 | 第43-53页 |
·PCIE-Endpoint的设计 | 第44-49页 |
·RX模块改进设计 | 第49-51页 |
·TX模块设计改进 | 第51-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第5章 基于Xilinx Virtex-5 FPGA芯片的PCIE模块的验证与综合 | 第54-72页 |
·引言 | 第54页 |
·PCIE测试模块的设计 | 第54-65页 |
·代码设计 | 第54-55页 |
·测试中的task设计分析 | 第55-65页 |
·仿真测试 | 第65-67页 |
·Modelsim仿真平台的搭建 | 第65-66页 |
·PCIE-DMA联合仿真测试分析 | 第66-67页 |
·PCI Express的综合 | 第67-70页 |
·PCIE设备驱动程序 | 第70-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
结论 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
附录 1 pci_exp_8_lane_64b_ep.v | 第77-86页 |
致谢 | 第86页 |