基于TDLAS的痕量气体浓度探测技术研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第1章 绪 论 | 第8-14页 |
·课题背景及意义 | 第8-10页 |
·TDLAS测量技术的主要特点 | 第10-11页 |
·TDLAS技术在气体浓度检测方面的研究现状 | 第11-12页 |
·课题的主要内容 | 第12-14页 |
第2章 可调谐二极管激光吸收光谱术 | 第14-28页 |
·比尔朗伯吸收定律 | 第14页 |
·气体分子吸收谱线线型 | 第14-16页 |
·直接吸收测量法 | 第16-18页 |
·波长调制光谱术 | 第18-21页 |
·频率调制光谱术 | 第21-25页 |
·双频调制光谱术 | 第25-26页 |
·波长稳定技术 | 第26-27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第3章 波长调制光谱术系统设计 | 第28-36页 |
·系统整体设计 | 第28-29页 |
·光源 | 第29-31页 |
·气体吸收池 | 第31-32页 |
·光电探测器 | 第32-34页 |
·锁相放大器 | 第34-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第4章 系统理论仿真分析 | 第36-47页 |
·系统函数模型 | 第36-38页 |
·谐波信号阶次的选择 | 第38-40页 |
·气体浓度对二次谐波信号的影响 | 第40-41页 |
·调制系数对二次谐波信号的影响 | 第41-42页 |
·强度调制对二次谐波信号的影响 | 第42-44页 |
·探测相位对二次谐波信号的影响 | 第44-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第5章 实验系统噪声分析 | 第47-53页 |
·分布反馈式激光器的光学反馈噪声 | 第47-48页 |
·激光器额外噪声 | 第48-49页 |
·光学干涉条纹 | 第49-50页 |
·探测器噪声 | 第50-51页 |
·残余幅度调制 | 第51-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
结论 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-60页 |
致谢 | 第60页 |