| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-27页 |
| 参考文献 | 第25-27页 |
| 第二章 实验原理与设备 | 第27-41页 |
| 2.1 扫描隧道显微镜概述 | 第27-28页 |
| 2.2 工作原理 | 第28-32页 |
| 2.3 自旋极化的STM/STS | 第32-34页 |
| 2.4 扫描隧道显微镜的工作模式 | 第34-35页 |
| 2.5 STM原子操纵 | 第35-36页 |
| 2.6 扫描隧道显微镜-分子束外延联合系统 | 第36-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 模拟方法介绍 | 第41-51页 |
| 3.1 模拟方法简介 | 第41页 |
| 3.2 求解单粒子薛定谔方程的方法 | 第41-43页 |
| 3.3 紧束缚近似方法 | 第43-46页 |
| 3.4 格林函数方法 | 第46-49页 |
| 参考文献 | 第49-51页 |
| 第四章 利用量子围栏确定磁性杂质在拓扑绝缘体表面磁性散射和势散射的大小 | 第51-73页 |
| 4.1 引言 | 第51-53页 |
| 4.2 模型与理论 | 第53-56页 |
| 4.3 单个杂质 | 第56-62页 |
| 4.3.1 只有磁性散射或者势散射的单个杂质 | 第56-57页 |
| 4.3.2 同时具有磁性散射和势散射的单个杂质 | 第57-60页 |
| 4.3.3 对比实验结果 | 第60-62页 |
| 4.4 量子围栏 | 第62-71页 |
| 4.4.1 只有磁性散射或者势散射的量子围栏 | 第63-67页 |
| 4.4.2 同时具有磁性散射和势散射的量子围栏 | 第67-69页 |
| 4.4.3 利用量子围栏确定磁性散射和势散射的大小 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 第五章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 硕士期间发表论文 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |