| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 引言 | 第14-19页 |
| 1.2 样机系统在工业现场应用时面临的问题 | 第19-20页 |
| 1.3 本论文的主要工作 | 第20-22页 |
| 第2章 工业物料成分检测系统样机升级方案 | 第22-58页 |
| 2.1 适用于PGNAA应用的基线修正方案 | 第22-37页 |
| 2.1.1 PGNAA应用中的基线分析 | 第22-23页 |
| 2.1.2 PGNAA应用中可行的基线修正方案 | 第23-33页 |
| 2.1.3 快速门控电路设计方案 | 第33-37页 |
| 2.2 适用于PGNAA应用中的光电倍增管分压电路设计方案 | 第37-45页 |
| 2.2.1 电压对光电倍增管的影响 | 第37-39页 |
| 2.2.2 PGNAA应用的光电倍增管分压电路设计方案 | 第39-41页 |
| 2.2.3 光电倍增管稳压设计方案 | 第41-45页 |
| 2.3 样机系统升级方案—一体化机箱设计 | 第45-50页 |
| 2.3.1 样机系统简介及改善方案分析 | 第45-50页 |
| 2.4 针对碘化钠探测器与BGO探测器的不同设计方案 | 第50-58页 |
| 2.4.1 碘化钠探测器与BGO探测器简介 | 第50-53页 |
| 2.4.2 提高探测器能量分辨率的电子学设计 | 第53-54页 |
| 2.4.3 调整能量测量范围的电子学设计 | 第54-56页 |
| 2.4.4 针对不同探测器的电子学设计方案总结 | 第56-58页 |
| 第3章 工业物料成分检测系统样机电子学升级设计 | 第58-74页 |
| 3.1 光电倍增管分压电路设计 | 第58-65页 |
| 3.1.1 第一打拿极门控电路实现 | 第58-61页 |
| 3.1.2 电流驱动电路设计与实现 | 第61-63页 |
| 3.1.3 光电倍增管分压电路最终设计与实现 | 第63-64页 |
| 3.1.4 两种探测器分压电路设计的区别 | 第64-65页 |
| 3.2 基线修正电路设计与实现 | 第65-68页 |
| 3.2.1 基线修正流程设计 | 第65-66页 |
| 3.2.2 基线修正过程中的时序设计 | 第66-67页 |
| 3.2.3 基线数字修正算法设计 | 第67-68页 |
| 3.3 一体化机箱设计 | 第68-74页 |
| 3.3.1 机箱结构设计 | 第68-69页 |
| 3.3.2 硬件逻辑设计 | 第69-71页 |
| 3.3.3 上位机测试软件设计 | 第71-74页 |
| 第4章 电子学系统升级设计测试 | 第74-98页 |
| 4.1 光电倍增管分压电路测试 | 第74-83页 |
| 4.1.1 门控电路测试 | 第74-77页 |
| 4.1.2 电压稳定性测试 | 第77-78页 |
| 4.1.3 第一打拿极分压比例对能谱的影响测试 | 第78-80页 |
| 4.1.4 高计数率条件下测试 | 第80-83页 |
| 4.2 基线修正电路测试 | 第83-87页 |
| 4.2.1 门控电路基线水平测试 | 第83-84页 |
| 4.2.2 工业现场基线测试 | 第84-86页 |
| 4.2.3 基线修正算法模拟测试 | 第86-87页 |
| 4.3 一体化机箱性能测试 | 第87-95页 |
| 4.3.1 计数率测试 | 第87-88页 |
| 4.3.2 电子学分辨率及多道非线性测试 | 第88-90页 |
| 4.3.3 高压模块线性测试 | 第90-91页 |
| 4.3.4 稳定性测试 | 第91-93页 |
| 4.3.5 样品能谱采集测试 | 第93-95页 |
| 4.4 总体评价 | 第95-98页 |
| 第5章 总结与展望 | 第98-100页 |
| 5.1 本论文内容总结 | 第98-99页 |
| 5.2 展望 | 第99-100页 |
| 参考文献 | 第100-104页 |
| 致谢 | 第104-106页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第106页 |
