首页--工业技术论文--一般工业技术论文--工程材料学论文--工程材料一般性问题论文--工程材料试验论文

基于视觉计算的扫描电子显微镜下微纳尺度三维形面测量方法研究

摘要第4-7页
ABSTRACT第7-9页
1 绪论第13-28页
    1.1 研究背景与意义第13-14页
    1.2 国内外研究现状及分析第14-25页
        1.2.1 单视测量方法第15-18页
        1.2.2 多视测量方法第18-23页
        1.2.3 融合测量方法及其他方法第23-25页
    1.3 课题来源第25页
    1.4 研究内容与技术路线第25-28页
2 SEM成像过程的通用性建模第28-46页
    2.1 引言第28-29页
    2.2 SEM成像原理与成像模型第29-34页
        2.2.1 SEM基本原理第29-31页
        2.2.2 SEM基本组成第31-32页
        2.2.3 SEM成像模型及其研究现状第32-34页
    2.3 连续通用成像模型第34-37页
        2.3.1 普朗克坐标系与径向基函数第34-36页
        2.3.2 连续通用成像模型的参数化建模第36页
        2.3.3 连续通用成像模型标定第36-37页
    2.4 实验结果及分析第37-44页
        2.4.1 模拟实验结果与分析第37-41页
        2.4.2 实际实验结果与分析第41-44页
    2.5 小结第44-46页
3 SEM图像畸变建模与校正方法第46-71页
    3.1 引言第46-47页
    3.2 SEM图像畸变原理与研究现状第47-49页
    3.3 顾及倍率变化的SEM图像畸变建模与校正第49-58页
        3.3.1 时间漂移畸变建模与校正第50-51页
        3.3.2 固有空间畸变的数学模型第51-53页
        3.3.3 基于阵列标靶的低倍率下模型解算第53-55页
        3.3.4 基于散斑标靶的高倍率下模型解算第55-58页
    3.4 实验结果及分析第58-69页
        3.4.1 模拟实验结果与分析第58-65页
        3.4.2 实际实验结果与分析第65-69页
    3.5 小结第69-71页
4 基于视差-深度映射的局部高效微纳三维测量方法第71-87页
    4.1 引言第71-72页
    4.2 基于视差-深度映射的三维测量流程及关键技术第72-79页
        4.2.1 视差-深度映射原理第73-74页
        4.2.2 SEM图像对的极线校准第74-77页
        4.2.3 基于数字图像相关(DIC)的稠密视差计算方法第77-79页
    4.3 实验结果及分析第79-85页
        4.3.1 数字图像相关法与光流法对比第79-81页
        4.3.2 与常规的微纳尺度三维测量方法对比实验第81-85页
    4.4 小结第85-87页
5 自适应SFM-SEM框架下整体精细微纳三维测量方法第87-105页
    5.1 引言第87-88页
    5.2 ASFM-SEM框架流程与优化第88-94页
        5.2.1 成像模型的选择与定义第89-90页
        5.2.2 透视投影模型下的多视三维重建第90-93页
        5.2.3 平行投影模型下的多视三维重建第93-94页
    5.3 针对SEM图像的特征提取及匹配算法第94-95页
    5.4 实验结果及分析第95-103页
        5.4.1 特征点提取及匹配实验结果第95-98页
        5.4.2 精度验证试验第98页
        5.4.3 三维重建实验结果第98-103页
    5.5 小结第103-105页
6 总结与展望第105-109页
    6.1 主要结论第105-107页
    6.2 研究展望第107-109页
致谢第109-111页
参考文献第111-125页
附录 攻读博士期间发表的学术论文、专利目录第125-127页

论文共127页,点击 下载论文
上一篇:非金属复合材料激光选区烧结制备与成形研究
下一篇:PVDF基复合材料热释电能量收集及电卡特性研究