| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-15页 |
| 1.2 工业光学自动检测研究现状 | 第15-19页 |
| 1.3 本文的主要内容和结构 | 第19-21页 |
| 参考文献 | 第21-24页 |
| 第2章 液晶屏检测光学成像系统 | 第24-34页 |
| 2.1 光源照明模块 | 第24-26页 |
| 2.2 采集模块 | 第26-29页 |
| 2.2.1 相机选择 | 第26-27页 |
| 2.2.2 镜头选择 | 第27-28页 |
| 2.2.3 采集卡及相机驱动 | 第28-29页 |
| 2.3 液晶屏检测光学系统选型 | 第29-33页 |
| 2.3.1 DIC原理 | 第31-32页 |
| 2.3.2 时间延迟积分CCD | 第32-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 液晶屏背板外观缺陷检测 | 第34-43页 |
| 3.1 背板组件R0I提取 | 第34-35页 |
| 3.2 外观缺陷检测 | 第35-42页 |
| 3.2.1 划伤检测 | 第36-37页 |
| 3.2.2 标签偏移检测 | 第37-39页 |
| 3.2.3 FPC折伤检测 | 第39-42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 液晶屏面板线路检测定位点识别 | 第43-54页 |
| 4.1 | 第44-52页 |
| 4.1.1 Hough变换 | 第44-46页 |
| 4.1.2 Harris角点 | 第46-48页 |
| 4.1.3 梯度直方图结合支持向量机识别法 | 第48-52页 |
| 4.2 本章小结 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |
| 第5章 导电粒子压合检测 | 第54-75页 |
| 5.1 图像增强 | 第54-57页 |
| 5.2 线路电极ROI分割 | 第57-60页 |
| 5.3 粒子压合识别 | 第60-73页 |
| 5.3.0 ACF粒子的微分干涉成像 | 第60-61页 |
| 5.3.1 图割法 | 第61-63页 |
| 5.3.2 Mean-shift分割 | 第63-66页 |
| 5.3.3 基于背景掩模法和K-means聚类的识别算法 | 第66-69页 |
| 5.3.4 检测结果及分析 | 第69-73页 |
| 5.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-75页 |
| 第6章 总结展望 | 第75-77页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第75页 |
| 6.2 展望 | 第75-77页 |
| 附录 硕士期间科研成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |