640×512低功耗红外焦平面阵列读出电路设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题的背景和意义 | 第9-11页 |
| 1.2 读出电路的研究现状与发展趋势 | 第11-12页 |
| 1.2.1 读出电路的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 读出电路的发展趋势 | 第12页 |
| 1.3 论文的研究内容和设计指标 | 第12-14页 |
| 1.4 论文的体系结构 | 第14-15页 |
| 第二章 红外焦平面阵列读出电路技术 | 第15-25页 |
| 2.1 红外探测器简介 | 第15-17页 |
| 2.1.1 红外探测器的分类 | 第15-16页 |
| 2.1.2 光伏探测器的工作原理 | 第16-17页 |
| 2.2 读出电路的性能参数 | 第17-19页 |
| 2.3 读出电路的输入结构 | 第19-23页 |
| 2.3.1 常用输入结构简介 | 第19-21页 |
| 2.3.2 DI与CTIA注入效率分析 | 第21-23页 |
| 2.4 低温对CMOS电路性能的影响 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 红外焦平面阵列读出电路的设计与仿真 | 第25-65页 |
| 3.1 读出电路的整体架构 | 第25-26页 |
| 3.2 像素单元的设计与仿真 | 第26-30页 |
| 3.2.1 DI型像素单元的设计 | 第26-29页 |
| 3.2.2 像素单元的仿真 | 第29-30页 |
| 3.3 列级放大电路的设计与仿真 | 第30-40页 |
| 3.3.1 电平移位电路的设计 | 第30-31页 |
| 3.3.2 电荷放大器的设计 | 第31-35页 |
| 3.3.3 列输出缓冲器的设计 | 第35-37页 |
| 3.3.4 列输出总线分割设计 | 第37-38页 |
| 3.3.5 列级放大电路的仿真 | 第38-40页 |
| 3.4 输出缓冲电路的设计与仿真 | 第40-42页 |
| 3.4.1 输出缓冲器的设计 | 第41页 |
| 3.4.2 输出缓冲器的仿真 | 第41-42页 |
| 3.5 偏置电路的设计 | 第42-46页 |
| 3.6 数字控制时序的设计与仿真 | 第46-58页 |
| 3.6.1 串行控制字寄存器组的设计与仿真 | 第46-48页 |
| 3.6.2 行地址选择电路的设计与仿真 | 第48-52页 |
| 3.6.3 列地址选择电路的设计与仿真 | 第52-56页 |
| 3.6.4 时序控制电路的设计与仿真 | 第56-58页 |
| 3.7 读出电路的全仿真与验证 | 第58-62页 |
| 3.7.1 读出电路的全仿真 | 第58-60页 |
| 3.7.2 设计指标的验证 | 第60-62页 |
| 3.8 本章小结 | 第62-65页 |
| 第四章 读出电路的版图设计与后仿真 | 第65-73页 |
| 4.1 版图设计概述 | 第65-66页 |
| 4.2 读出电路版图的设计 | 第66-69页 |
| 4.2.1 像素单元的版图设计 | 第66-67页 |
| 4.2.2 列级放大电路的版图设计 | 第67页 |
| 4.2.3 输出缓冲器的版图设计 | 第67-68页 |
| 4.2.4 PAD与ESD的版图设计 | 第68页 |
| 4.2.5 读出电路版图的整体布局 | 第68-69页 |
| 4.3 读出电路的后仿真与验证 | 第69-72页 |
| 4.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 5.1 总结 | 第73页 |
| 5.2 展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 作者简介 | 第81页 |
