| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 图表清单 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·研究背景 | 第10-13页 |
| ·防伪技术市场形势 | 第10-11页 |
| ·防伪技术的基本要素 | 第11-12页 |
| ·量子点的产生和发展 | 第12-13页 |
| ·研究目的和内容 | 第13-14页 |
| ·研究目的 | 第13页 |
| ·论文结构与研究内容 | 第13-14页 |
| ·小结 | 第14-15页 |
| 第二章 近红外荧光量子点防伪技术的基本原理及设计方案 | 第15-31页 |
| ·荧光量子点的性质 | 第15-17页 |
| ·量子点的基本性质 | 第15-16页 |
| ·量子点的光致发光机理 | 第16-17页 |
| ·量子点的光学性质 | 第17页 |
| ·近红外荧光量子点防伪技术设计方案 | 第17-22页 |
| ·单波长荧光量子点防伪技术设计方案 | 第18-20页 |
| ·双波长荧光量子点防伪技术设计方案 | 第20-22页 |
| ·设计方案适用性分析 | 第22页 |
| ·隐蔽性 | 第22页 |
| ·不可重复性 | 第22页 |
| ·编码容量 | 第22页 |
| ·防伪信息加密措施 | 第22-24页 |
| ·加性密匙 | 第23页 |
| ·乘性密匙 | 第23-24页 |
| ·仿射密匙 | 第24页 |
| ·防伪技术应用实例 | 第24-26页 |
| ·近红外荧光量子点防伪技术与条形码技术结合的防伪方案 | 第26-29页 |
| ·条形码技术概况 | 第26-27页 |
| ·条形码技术与量子点防伪技术的相同之处 | 第27页 |
| ·量子点防伪技术与条形码技术结合实例 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 荧光测试数据分析 | 第31-43页 |
| ·荧光测试系统 | 第31-34页 |
| ·光源 | 第31-32页 |
| ·样品平台 | 第32页 |
| ·光谱检测系统 | 第32-34页 |
| ·温度对于荧光量子点光谱性质的影响 | 第34-36页 |
| ·温度对特征峰波长的影响 | 第34-35页 |
| ·温度对量子点特征峰值的影响 | 第35-36页 |
| ·单波长荧光量子点防伪技术设计方案分析 | 第36-37页 |
| ·双波长荧光量子点防伪技术设计方案分析 | 第37-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 防伪检测系统设计 | 第43-55页 |
| ·光电检测模块 | 第43-47页 |
| ·光电倍增管 | 第43-44页 |
| ·光电倍增管的供电和信号输出 | 第44-46页 |
| ·实验结果分析 | 第46-47页 |
| ·数据采集模块 | 第47-50页 |
| ·软件分析模块 | 第50-54页 |
| ·虚拟仪器技术 | 第50页 |
| ·程序流程图 | 第50-51页 |
| ·基于LabVIEW 的数据分析程序 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·全文总结 | 第55页 |
| ·本文创新点 | 第55-56页 |
| ·展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 发表文章 | 第61页 |