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基于红外热像的劣化绝缘子智能检测系统研发

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第11-18页
    1.1 课题背景及意义第11-12页
    1.2 国内外研究现状第12-14页
    1.3 红外热像法检测法现状第14-16页
    1.4 课题来源第16页
    1.5 本文主要研究内容及创新点第16-18页
        1.5.1 主要研究内容第16-17页
        1.5.2 本文主要创新点第17-18页
第2章 红外检测技术原理和绝缘子发热理论第18-29页
    2.1 红外检测技术原理第18-21页
        2.1.1 红外辐射基本理论第18-19页
        2.1.2 红外热像仪工作原理第19页
        2.1.3 红外热像技术检测特点第19-20页
        2.1.4 红外热像法检测的基本方法第20-21页
    2.2 绝缘子发热理论第21-27页
        2.2.1 绝缘子发热模型第21-22页
        2.2.2 绝缘子串电压分布仿真计算第22-24页
        2.2.3 绝缘子铁帽发热估算第24-26页
        2.2.4 红外检测盲区分析第26-27页
    2.3 本章小结第27-29页
第3章 绝缘子发热特征试验分析第29-42页
    3.1 试验装置和试品第29-31页
        3.1.1 加压装置第29-30页
        3.1.2 热雾和湿度控制系统第30页
        3.1.3 试品第30-31页
    3.2 正常绝缘子串温度特征第31-33页
        3.2.1 试验方案第31页
        3.2.2 试验数据结果分析第31-32页
        3.2.3 实验小结第32-33页
    3.3 含有零值绝缘子串温升特性第33-36页
        3.3.1 试验方案第33页
        3.3.2 试验数据分析第33-36页
        3.3.3 试验小结第36页
    3.4 环境湿度对含有零值绝缘子串的温升特性影响第36-41页
        3.4.1 含有1.73MΩ的零值绝缘子串试验分析第37-39页
        3.4.2 含有3.56MΩ的零值绝缘子串试验分析第39-41页
        3.4.3 试验小结第41页
    3.5 本章小结第41-42页
第4章 红外图像处理和劣化绝缘子检测方法第42-58页
    4.1 绝缘子盘面和铁帽区域分割第42-49页
        4.1.1 图像预处理第42-45页
        4.1.2 角度校正第45-47页
        4.1.3 导线干扰过滤第47-48页
        4.1.4 铁帽和盘面区域分割第48-49页
    4.2 劣化绝缘子检测方法第49-57页
        4.2.1 基于铁帽和盘面的基准温度特征法第49-53页
        4.2.2 神经网络算法识别劣化绝缘子第53-57页
    4.3 本章小结第57-58页
第5章 劣化绝缘子智能检测系统研发第58-67页
    5.1 智能检测系统概述第58-60页
        5.1.1 系统设计模块第58-59页
        5.1.2 系统设计原则第59-60页
    5.2 劣化绝缘子智能检测系统配置第60-61页
        5.2.1 系统硬件设备及底层软件第60页
        5.2.2 系统软件设计第60-61页
    5.3 系统功能介绍第61-66页
        5.3.1 离线分析第62-63页
        5.3.2 数据挖掘第63-64页
        5.3.3 系统管理第64-65页
        5.3.4 在线分析第65-66页
    5.4 实测分析第66页
    5.5 本章小结第66-67页
结论与展望第67-69页
    结论第67-68页
    展望第68-69页
参考文献第69-74页
致谢第74-75页
附录A 攻读学位期间获奖及所发表的学术论文第75-76页
附录B 攻读学位期间参与的科研项目第76页

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