| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 引言 | 第7-8页 |
| 1.文献综述 | 第8-15页 |
| 1.1 问题的提出及背景 | 第8-9页 |
| 1.2 XRF 稀土的研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 XRF 中基体效应及影响系数研究现状 | 第11-13页 |
| 1.4 本课题主要研究内容及研究成果 | 第13-15页 |
| 2. X 射线荧光光谱分析基本理论参数 | 第15-22页 |
| 2.1 X 射线物理学基础 | 第15-16页 |
| 2.1.1 X 射线的本质及定义 | 第15-16页 |
| 2.1.2 X 射线光谱 | 第16页 |
| 2.2 X 射线与物质的相互作用 | 第16-18页 |
| 2.2.1 X 射线在物质中的吸收 | 第16-17页 |
| 2.2.2 X 射线在物质中的散射 | 第17-18页 |
| 2.3 莫塞莱定律 | 第18-19页 |
| 2.4 俄歇效应和荧光产额 | 第19-20页 |
| 2.5 谱线分数 | 第20-22页 |
| 3. X 射线荧光强度的理论计算 | 第22-29页 |
| 3.1 激发因子 | 第22页 |
| 3.2 一次（原级）荧光强度计算 | 第22-25页 |
| 3.2.1 单色 X 射线激发时一次荧光强度的计算 | 第23-24页 |
| 3.2.2 多色 X 射线激发时一次荧光强度的计算 | 第24-25页 |
| 3.3 二次（次级）荧光强度的计算 | 第25-26页 |
| 3.3.1 单色 X 射线激发时二次荧光强度的计算 | 第25-26页 |
| 3.3.2 多色 X 射线激发时二次荧光强度的计算 | 第26页 |
| 3.4 三次（第三级）荧光强度的计算 | 第26-27页 |
| 3.5 X 射线荧光相对强度理论计算 | 第27-29页 |
| 4. X 射线荧光光谱定量分析 | 第29-37页 |
| 4.1 基体效应研究 | 第29-31页 |
| 4.2 理论影响系数法 | 第31-32页 |
| 4.3 经验系数法 | 第32-33页 |
| 4.4 定量分析 | 第33-37页 |
| 5. 实验结果及分析 | 第37-54页 |
| 5.1 实验原材料及设备 | 第37-40页 |
| 5.1.1 实验原料 | 第37-38页 |
| 5.1.2 实验设备 | 第38-40页 |
| 5.2 实验方案 | 第40-42页 |
| 5.3 白云鄂博矿 XRF 分析谱图中各元素之间的关系 | 第42-44页 |
| 5.4 人工配制样品的实验结果与分析 | 第44-50页 |
| 5.4.1 人工配制的样品中铈元素与铁元素之间的基体校正 | 第45-48页 |
| 5.4.2 人工配制的样品中铈元素与钙元素之间的基体校正 | 第48-50页 |
| 5.5 白云鄂博矿原矿的实验结果与分析 | 第50-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 在学研究成果 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
