摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
第一章 绪论 | 第9-27页 |
1.1 引言 | 第9页 |
1.2 光电化学催化产氢的研究进展 | 第9-15页 |
1.2.1 光电催化产氢的基本原理 | 第9-11页 |
1.2.2 光电催化产氢光阴极材料的研究现状 | 第11-13页 |
1.2.3 提高半导体材料光电催化产氢性能的途径 | 第13-15页 |
1.3 量子点敏化太阳能电池对电极的研究进展 | 第15-19页 |
1.3.1 量子点敏化太阳能电池的结构与基本原理 | 第15-17页 |
1.3.2 量子点敏化太阳能电池对电极材料的应用要求 | 第17-18页 |
1.3.3 量子点敏化太阳能电池对电极材料的研究现状 | 第18-19页 |
1.4 纳米片阵列结构的研究现状 | 第19-21页 |
1.4.1 纳米片阵列结构的制备 | 第20页 |
1.4.2 纳米片阵列结构的应用进展 | 第20-21页 |
1.5 Cu_2ZnSnS_4纳米材料的研究进展 | 第21-23页 |
1.5.1 Cu_2ZnSnS_4的基本物理化学性质 | 第21-22页 |
1.5.2 Cu_2ZnSnS_4纳米材料的制备方法与应用 | 第22-23页 |
1.6 CuS纳米材料的研究进展 | 第23-25页 |
1.6.1 CuS的基本物理化学性质 | 第23-24页 |
1.6.2 CuS纳米材料的制备方法与应用 | 第24-25页 |
1.7 本论文的研究思路和创新之处 | 第25-27页 |
第二章 实验原料与实验装置 | 第27-38页 |
2.1 实验原料 | 第27-28页 |
2.2 实验装置 | 第28-30页 |
2.2.1 超声波清洗仪 | 第28页 |
2.2.2 电子天平 | 第28页 |
2.2.3 恒温真空干燥箱 | 第28页 |
2.2.4 离心机 | 第28页 |
2.2.5 真空管式炉 | 第28-29页 |
2.2.6 恒温磁力搅拌器 | 第29页 |
2.2.7 移液枪 | 第29页 |
2.2.8 Keithley 2611数字源表 | 第29页 |
2.2.9 匀胶机 | 第29页 |
2.2.10氙灯光源 | 第29-30页 |
2.3 表征手段 | 第30-32页 |
2.3.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第30页 |
2.3.2 透射电子显微镜(TEM) | 第30页 |
2.3.3 紫外-可见分光光度计(UV4100) | 第30页 |
2.3.4 结晶相分析(XRD) | 第30页 |
2.3.5 电化学阻抗谱分析(EIS) | 第30-31页 |
2.3.6 太阳能电池光电性能测试系统 | 第31页 |
2.3.7 拉曼测试 | 第31-32页 |
2.3.8 X射线光电子光谱测试(XPS) | 第32页 |
2.3.9 电感耦合等离子体原子发射光谱测试(ICP-AES) | 第32页 |
2.3.10 原子力显微镜(AFM) | 第32页 |
2.4 实验方法 | 第32-38页 |
2.4.1 CuS单晶纳米片阵列的制备 | 第33-34页 |
2.4.2 CZTS单晶纳米片阵列的制备 | 第34页 |
2.4.3 CZTS薄膜的制备 | 第34页 |
2.4.4 CdS量子点反蛋白石结构阳极的制备 | 第34-36页 |
2.4.5 多硫电解液的配制 | 第36页 |
2.4.6 电池封装 | 第36-37页 |
2.4.7 光电产氢性能测试方法 | 第37-38页 |
第三章 CZTS单晶纳米片阵列的制备及其作为光电产氢光阴极材料的性能研究 | 第38-55页 |
3.1 本章引言 | 第38-39页 |
3.2 材料的制备与表征 | 第39-49页 |
3.2.1 CuS单晶纳米片阵列的制备与表征 | 第39-41页 |
3.2.2 CuS单晶纳米片形成机理探究 | 第41-42页 |
3.2.3 CZTS单晶纳米片阵列的制备与表征 | 第42-47页 |
3.2.4 CZTS单晶纳米片的形成机理探究 | 第47-48页 |
3.2.5 CZTS纳米颗粒薄膜的制备与表征 | 第48-49页 |
3.3 CZTS单晶纳米片阵列与颗粒薄膜的性能对比 | 第49-53页 |
3.3.1 光电产氢性能对比 | 第49-50页 |
3.3.2 FTDT模拟与光吸收对比 | 第50-51页 |
3.3.3 电荷传输性能对比 | 第51-52页 |
3.3.4 比表面积对比 | 第52-53页 |
3.4 结果讨论 | 第53-54页 |
3.5 本章小结 | 第54-55页 |
第四章 CuS与CZTS单晶纳米片阵列用于QDSSC的对电极 | 第55-60页 |
4.1 本章引言 | 第55页 |
4.2 CuS与CZTS单晶纳米片阵列的对电极性能测试 | 第55-59页 |
4.2.1 I-V曲线测试及分析 | 第56页 |
4.2.2 电化学阻抗谱(EIS)测试及分析 | 第56-58页 |
4.2.3 循环伏安(CV)曲线测试及分析 | 第58-59页 |
4.3 结果讨论 | 第59页 |
4.4 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 全文结论 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-68页 |
发表论文和科研情况说明 | 第68-69页 |
致谢 | 第69-71页 |