摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
1.2 印刷缺陷检测的研究现状和分析 | 第10-13页 |
1.2.1 检测平台的发展现状和分析 | 第10-12页 |
1.2.2 检测算法的研究现状和分析 | 第12-13页 |
1.3 DSP的发展及其在印刷品缺陷检测领域的应用 | 第13-16页 |
1.3.1 DSP的发展及其特点 | 第13-14页 |
1.3.2 DSP在印刷检测领域的应用 | 第14-16页 |
1.4 课题内容及结构安排 | 第16-17页 |
第2章 课题基本理论及技术需求 | 第17-35页 |
2.1 引言 | 第17页 |
2.2 图像配准的基础理论 | 第17-22页 |
2.2.1 图像配准的定义 | 第17-18页 |
2.2.2 图像配准的基本方法 | 第18-22页 |
2.3 缺陷检测的基本方法 | 第22-25页 |
2.3.1 逐像素检测法 | 第22-23页 |
2.3.2 逐层检测法 | 第23-24页 |
2.3.3 区域投影直方图检测法 | 第24-25页 |
2.4 DSP平台的基本理论 | 第25-29页 |
2.4.1 DVS6446开发板的总体结构及硬件指标 | 第25-26页 |
2.4.2 软件开发环境 | 第26-28页 |
2.4.3 视觉库简介 | 第28-29页 |
2.5 课题技术需求 | 第29-34页 |
2.5.1 模拟实验平台说明 | 第29-33页 |
2.5.2 技术指标确立 | 第33-34页 |
2.6 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 在线检测算法设计及DSP调试 | 第35-50页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 基于双模版匹配的配准算法 | 第35-41页 |
3.2.1 最大相似匹配原理 | 第36-37页 |
3.2.2 双模版匹配算法 | 第37-39页 |
3.2.3 实验及结果分析 | 第39-41页 |
3.3 基于正反区域差影的检测算法 | 第41-45页 |
3.3.1 正负差值原理 | 第41-42页 |
3.3.2 区域差影原理 | 第42-44页 |
3.3.3 实验及结果分析 | 第44-45页 |
3.4 DSP平台调试 | 第45-49页 |
3.4.1 Cmd文件编写 | 第45-47页 |
3.4.2 DSP初始化 | 第47页 |
3.4.3 库文件生成 | 第47-48页 |
3.4.4 DSP数据载入 | 第48-49页 |
3.5 本章小结 | 第49-50页 |
第4章 实验及其结果分析 | 第50-64页 |
4.1 引言 | 第50页 |
4.2 基于PC处理器的缺陷检测实验及结果分析 | 第50-58页 |
4.2.1 实验界面介绍 | 第50-53页 |
4.2.2 不同类型印刷产品的检测统计 | 第53-55页 |
4.2.3 不同类型缺陷的检测统计 | 第55-57页 |
4.2.4 实时性分析 | 第57-58页 |
4.3 基于DSP处理器的算法实验及结果分析 | 第58-63页 |
4.3.1 缺陷检测算法实现方式 | 第58-59页 |
4.3.2 不同类型印刷品及缺陷的检测实现 | 第59-62页 |
4.3.3 实时性分析及改进设想 | 第62-63页 |
4.4 本章小结 | 第63-64页 |
结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第69-71页 |
致谢 | 第71页 |