摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 论文研究背景与研究意义 | 第10-12页 |
1.2 电连接器焊点可靠性研究现状 | 第12-13页 |
1.2.1 焊点失效机制的研究 | 第13页 |
1.3 焊点热循环寿命预测方法 | 第13-14页 |
1.4 本文研究思路 | 第14-15页 |
第二章 Micro-USB电连接器焊点热疲劳寿命研究相关理论 | 第15-27页 |
2.1 有限元方法 | 第15-16页 |
2.1.1 有限元法的基本思想 | 第15页 |
2.1.2 有限元软件简介 | 第15-16页 |
2.2 材料的本构理论 | 第16-22页 |
2.2.1 线性材料的本构方程模型 | 第16-17页 |
2.2.2 非线性材料的本构理论模型 | 第17-22页 |
2.2.2.1 ANAND本构模型 | 第17-19页 |
2.2.2.2 Garofalo-Arrheninus模型 | 第19-20页 |
2.2.2.3 Norton模型 | 第20-21页 |
2.2.2.4 Wong方程模型 | 第21页 |
2.2.2.5 Wises方程模型 | 第21-22页 |
2.3 焊点寿命预测模型 | 第22-25页 |
2.3.1 蠕变形变为基础模型 | 第22-23页 |
2.3.2 塑性应变(Coffin-Manson)为基础模型 | 第23-24页 |
2.3.3 断裂参量为基础的模型 | 第24页 |
2.3.4 能量为基础模型 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-27页 |
第三章 Micro-USB电连接器整体模型建立与分析 | 第27-40页 |
3.1 Micro-USB电连接器整体模型 | 第27-32页 |
3.1.1 电连接器模型及尺寸 | 第28-31页 |
3.1.2 连接器导线模型 | 第31-32页 |
3.2 选择单元 | 第32-33页 |
3.3 定义材料属性 | 第33-35页 |
3.4 温度加载条件 | 第35-37页 |
3.5 网格划分 | 第37-38页 |
3.6 模型边界条件 | 第38-39页 |
3.7 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 Micro -USB电连接器无铅焊点热循环应力应变的模拟研究 | 第40-54页 |
4.1 Micro-USB焊点应力应变理论 | 第40-41页 |
4.2 仿真结果及分析 | 第41-48页 |
4.2.1 应力的分布及变化规律 | 第41-45页 |
4.2.2 应变分布和变化规律 | 第45-48页 |
4.3 焊点整体应力应变分析 | 第48-51页 |
4.4 应力应变迟滞环 | 第51-52页 |
4.5 本章小结 | 第52-54页 |
第五章 Micro-USB电连接器焊点疲劳寿命预测 | 第54-60页 |
5.1 焊点寿命预测方法 | 第54-55页 |
5.2 焊点的寿命计算 | 第55-58页 |
5.2.1 焊点寿命预测公式 | 第55页 |
5.2.2 不同节点寿命计算 | 第55-58页 |
5.3 不同温度循环的焊点寿命计算 | 第58-59页 |
5.4 本章小结 | 第59-60页 |
第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
6.1 本文总结 | 第60-61页 |
6.2 展望 | 第61-62页 |
致谢 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第67-68页 |
附录 | 第68-74页 |
附录一 部分节点塑性应变数据 | 第68-72页 |
附录二 不同时间段焊点塑性应变云图 | 第72-74页 |