基于图像处理的电离层垂测频高图参数提取方法的研究
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
1 绪论 | 第11-18页 |
1.1 课题研究背景与意义 | 第11-13页 |
1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
1.3 本文工作安排 | 第16-18页 |
2 电离层频高图获取方法 | 第18-28页 |
2.1 电离层的相关知识 | 第18-21页 |
2.2 电离层探测的方法 | 第21-22页 |
2.3 电离层垂直探测 | 第22-26页 |
2.4 垂测频高图的获得 | 第26-27页 |
2.5 本章小结 | 第27-28页 |
3 电离层频高图分割 | 第28-33页 |
3.1 频高图目标区域划分 | 第28-30页 |
3.2 E、F 层分割 | 第30-32页 |
3.3 本章小结 | 第32-33页 |
4 F 层参数提取 | 第33-45页 |
4.1 F 层频高图像预处理 | 第33-36页 |
4.2 F 层主描迹提取 | 第36-38页 |
4.3 白天 F 层参数提取 | 第38-41页 |
4.4 夜晚 F 层参数提取 | 第41-44页 |
4.5 本章小结 | 第44-45页 |
5 E 层参数提取 | 第45-52页 |
5.1 E 层频高图像预处理 | 第45-48页 |
5.2 E 及 Es 层描迹类型的判读 | 第48-49页 |
5.3 E 层参数提取 | 第49-51页 |
5.4 本章小结 | 第51-52页 |
6 总结与展望 | 第52-55页 |
6.1 总结 | 第52-53页 |
6.2 展望 | 第53-55页 |
参考文献 | 第55-59页 |
致谢 | 第59-60页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第60-61页 |