| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 分子器件 | 第7-9页 |
| 1.1.1 分子器件的起源 | 第7-8页 |
| 1.1.2 分子器件的类别 | 第8-9页 |
| 1.1.3 分子器件的前景 | 第9页 |
| 1.2 富勒烯分子 | 第9-10页 |
| 1.3 可行性和技术背景 | 第10-11页 |
| 1.4 研究目的及主要内容 | 第11-13页 |
| 第2章 实验原理和仪器介绍 | 第13-24页 |
| 2.1 超高真空扫描隧道显微镜原理 | 第13-16页 |
| 2.1.1 量子隧穿效应 | 第13页 |
| 2.1.2 超高真空扫描隧道显微镜工作原理 | 第13-15页 |
| 2.1.3 针尖与样品表面态处理 | 第15-16页 |
| 2.1.4 STM 对吸附物的成像 | 第16页 |
| 2.2 扫描隧道显微镜硬件简介 | 第16-20页 |
| 2.2.1 腔体 | 第16-18页 |
| 2.2.2 泵 | 第18-19页 |
| 2.2.3 STM 核心部件 | 第19页 |
| 2.2.4 针尖 | 第19-20页 |
| 2.3 密度泛函理论（Density Function Theory） | 第20-22页 |
| 2.4 有机分子束沉积技术（Organic Molecular Beam Deposition） | 第22-24页 |
| 第3章 室温下 Ag 团簇对 Si(111)-7×7 重构表面上 C_(60)分子吸附结构自发转变的调控 | 第24-41页 |
| 3.1 Si(111)-7×7 样品表面 | 第24-27页 |
| 3.1.1 Si(111)-7×7 样品的制备 | 第24-25页 |
| 3.1.2 Si(111)-7×7 重构表面特征 | 第25-26页 |
| 3.1.3 Si(111)-7×7 重构表面的 STM 图像 | 第26-27页 |
| 3.2 C_(60)分子在 Si(111)-7×7 表面的吸附行为研究 | 第27-30页 |
| 3.2.1 实验步骤 | 第27页 |
| 3.2.2 C_(60)分子在 Si(111)-7×7 表面吸附行为 | 第27-28页 |
| 3.2.3 C_(60)分子吸附行为的理论研究 | 第28-30页 |
| 3.3 Ag 团簇对 C_(60)在 Si(111)-7×7 表面的吸附行为的影响 | 第30-35页 |
| 3.3.1 C_(60)/Si(111)-7×7 体系中引入 Ag 团簇的目的和意义 | 第30页 |
| 3.3.2 Ag 团簇对 Si(111)-7×7 表面上 C_(60)吸附取向的调控 | 第30-35页 |
| 3.4 在 Ag/Si(111)体系中引入 C_(60)的研究 | 第35-37页 |
| 3.4.1 在 Ag/Si(111)体系中引入 C_(60)的目的和意义 | 第35页 |
| 3.4.2 在 Ag/Si(111)体系中引入 C_(60)的 STM 观测 | 第35-37页 |
| 3.5 结果分析和讨论 | 第37-41页 |
| 第4章 室温下对 Si(111)-7×7 重构表面上 C_(60)分子的操纵 | 第41-47页 |
| 4.1 用 STM 进行单分子操纵的方式简介 | 第41-42页 |
| 4.1.1 操纵方式分类 | 第41-42页 |
| 4.2 Linescan 操纵 | 第42-43页 |
| 4.3 Linescan 操纵 C_(60)分子的 STM 图 | 第43-46页 |
| 4.3.1 Linescan 操纵对样品的要求 | 第43页 |
| 4.3.2 Linescan 操纵细节 | 第43-44页 |
| 4.3.3 Linescan 操纵 Si(111)-7×7 重构表面上的 C_(60)分子 | 第44-46页 |
| 4.4 总结 | 第46-47页 |
| 第5章 结论与展望 | 第47-49页 |
| 5.1 结论 | 第47页 |
| 5.2 展望 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第53页 |
