| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-22页 |
| ·等离子体研究背景 | 第10-12页 |
| ·TOKOMAK装置简介 | 第12-16页 |
| ·高温等离子体中的磁场诊断 | 第16-17页 |
| ·电子束离子阱(EBIT装置)简介 | 第17-22页 |
| ·高电荷态离子研究背景 | 第17页 |
| ·电子束离子阱的发展概况 | 第17-19页 |
| ·电子束离子阱的构造和工作原理 | 第19-22页 |
| 第二章 磁场诱导跃迁用于等离子体磁场诊断的理论研究 | 第22-56页 |
| ·磁场诱导跃迁研究简介和任务 | 第22-24页 |
| ·相对论原子结构计算原理 | 第24-33页 |
| ·高等量子力学基础 | 第24-28页 |
| ·原子结构计算介绍 | 第28-33页 |
| ·原子计算程序包介绍 | 第33-35页 |
| ·GraspVU计算程序包 | 第33-34页 |
| ·FAC计算程序包 | 第34-35页 |
| ·磁场诱导跃迁的计算和结果 | 第35-42页 |
| ·计算过程 | 第35-38页 |
| ·计算结果 | 第38-42页 |
| ·磁场诱导跃迁用于等离子体磁场诊断的可行性分析 | 第42-55页 |
| ·基于分支比的初步可行性分析 | 第42-44页 |
| ·基于碰撞辐射模型的跃迁线强研究 | 第44-53页 |
| ·磁场诱导跃迁用于等离子体磁场诊断的可行性综合分析 | 第53-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第三章 真空紫外到软X射线光谱分析系统的建设 | 第56-74页 |
| ·平焦场光栅谱仪简介 | 第56-63页 |
| ·变栅距光栅原理 | 第56-61页 |
| ·上海EBIT实验室平焦场谱仪系统简介 | 第61-63页 |
| ·光谱分析系统的安装、测试和校刻 | 第63-67页 |
| ·平焦场谱仪的准直 | 第63-65页 |
| ·平焦场谱仪的校刻和测试实验 | 第65-67页 |
| ·光谱分析系统的新校刻手段发展 | 第67-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 第四章 弱信号光谱处理方法及相关程序开发 | 第74-88页 |
| ·基于CCD探测器的X射线光谱的弱信号特性 | 第74-75页 |
| ·弱X光源CCD采集光谱的一种新的高效信号分离方法 | 第75-83页 |
| ·CCD的光子能量分辨 | 第75-78页 |
| ·基于光子计数的信号筛选算法和相应程序开发 | 第78-81页 |
| ·光谱处理结果 | 第81-83页 |
| ·多功能光谱处理软件的开发 | 第83-86页 |
| ·小结 | 第86-88页 |
| 第五章 EBIT电子束的成像手段建设及高精度测量 | 第88-104页 |
| ·上海EBIT装置简介 | 第88-91页 |
| ·EBIT电子束狭缝成像系统和测量实验 | 第91-94页 |
| ·电子束直径的估算 | 第91-92页 |
| ·EBIT电子束狭缝成像系统 | 第92-93页 |
| ·EBIT电子束成像实验 | 第93-94页 |
| ·成像算法和相关程序编写 | 第94-100页 |
| ·反成像迭代去卷积方法 | 第94-95页 |
| ·基于非线性数值拟合的反卷积方法 | 第95-100页 |
| ·实验结果分析 | 第100-103页 |
| ·成像结果和数据处理 | 第100-101页 |
| ·分析和讨论 | 第101-103页 |
| ·小结 | 第103-104页 |
| 总结 | 第104-106页 |
| 参考文献 | 第106-112页 |
| 发表文章汇总 | 第112-114页 |
| 致谢 | 第114-116页 |
