摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第7-13页 |
第一章 绪论 | 第13-24页 |
1.1 先进光学元件 | 第13-15页 |
1.1.1 先进光学元件的应用 | 第13-14页 |
1.1.2 先进光学元件加工技术 | 第14-15页 |
1.2 先进光学元件超精密加工体系 | 第15-20页 |
1.2.1 超精密加工装备 | 第16-18页 |
1.2.2 超精密加工环境监控 | 第18-20页 |
1.3 图像识别研究发展状况 | 第20-23页 |
1.4 论文的主要研究内容 | 第23-24页 |
第二章 超精密加工环境监控系统的构架 | 第24-33页 |
2.1 超精密加工设备及环境 | 第24-25页 |
2.2 超精密加工环境监控系统构架 | 第25-26页 |
2.2.1 监控系统硬件规划 | 第25-26页 |
2.2.2 监控系统软件规划 | 第26页 |
2.3 监控系统硬件设计 | 第26-29页 |
2.3.1 TMS320DM642视频接口电路介绍 | 第27页 |
2.3.2 TMS320DM642串行接口电路介绍 | 第27-28页 |
2.3.3 监控系统硬件结构 | 第28-29页 |
2.4 DM642程序设计基础 | 第29-32页 |
2.4.1 CCS编程介绍 | 第30页 |
2.4.2 DSP/BIOS实时操作系统介绍 | 第30-31页 |
2.4.3 DM642程序烧写与加载 | 第31-32页 |
2.5 小结 | 第32-33页 |
第三章 数字仪表图像识别算法 | 第33-46页 |
3.1 数字仪表图像识别流程 | 第33-34页 |
3.2 仪表定位 | 第34-37页 |
3.2.1 仪表定位方案 | 第34-35页 |
3.2.2 角点检测 | 第35页 |
3.2.3 边缘检测 | 第35-37页 |
3.3 二值化 | 第37-39页 |
3.3.1 动态聚类C-均值法 | 第38页 |
3.3.2 类间方差法(Otsu法) | 第38-39页 |
3.3.3 算法选择与优化 | 第39页 |
3.4 数字分割 | 第39-40页 |
3.5 特征提取与识别 | 第40-45页 |
3.5.1 识别算法选择与特征选择 | 第41页 |
3.5.2 BP神经网络的结构 | 第41-43页 |
3.5.3 BP神经网络的训练 | 第43页 |
3.5.4 BP网络的设计分析 | 第43-45页 |
3.6 小结 | 第45-46页 |
第四章 指针式仪表识别算法 | 第46-56页 |
4.1 图像定位与二值化 | 第46-47页 |
4.2 直线检测算法 | 第47-52页 |
4.2.1 Hough变换 | 第47-48页 |
4.2.2 模板扫描 | 第48-52页 |
4.2.3 直线检测算法的选择 | 第52页 |
4.3 指针识别算法 | 第52-54页 |
4.3.1 形态学细化处理 | 第53页 |
4.3.2 检测指针边缘线 | 第53-54页 |
4.4 小结 | 第54-56页 |
第五章 程序设计 | 第56-69页 |
5.1 下位机程序设计 | 第56-64页 |
5.1.1 下位机程序规划 | 第56-57页 |
5.1.2 下位机串口通信程序 | 第57-59页 |
5.1.3 下位机视频采集与显示程序 | 第59-61页 |
5.1.4 下位机图像处理识别程序 | 第61-64页 |
5.2 上位机程序设计 | 第64-68页 |
5.2.1 识别结果分析与处理 | 第65页 |
5.2.2 人工辅助定位 | 第65-67页 |
5.2.3 数据库 | 第67页 |
5.2.4 图像显示与保存 | 第67-68页 |
5.3 小结 | 第68-69页 |
第六章 监控系统实验 | 第69-75页 |
6.1 数字式仪表识别实验 | 第69-71页 |
6.1.1 识别光照变化下的数字仪表 | 第69-70页 |
6.1.2 识别快速变化的数字 | 第70-71页 |
6.2 指针式仪表识别实验 | 第71-74页 |
6.2.1 识别仪表的指针角度变化 | 第71-73页 |
6.2.2 识别位置变化的指针式仪表 | 第73-74页 |
6.3 小结 | 第74-75页 |
第七章 总结与展望 | 第75-77页 |
7.1 总结 | 第75-76页 |
7.2 展望 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-80页 |
致谢 | 第80-81页 |
硕士期间科研成果 | 第81页 |