中文摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
第一章 绪论 | 第8-21页 |
1.1 引言 | 第8-9页 |
1.2 金属基复合材料简介 | 第9-10页 |
1.2.1 金属基复合材料的定义 | 第9页 |
1.2.2 金属基复合材料的分类 | 第9页 |
1.2.3 金属基复合材料的特性 | 第9-10页 |
1.3 金属基复合材料的制备 | 第10-13页 |
1.3.1 固态复合成型技术 | 第10页 |
1.3.2 液态法 | 第10-11页 |
1.3.3 喷射沉积技术 | 第11页 |
1.3.4 原位自生成技术 | 第11-12页 |
1.3.5 表面镀覆复合技术 | 第12-13页 |
1.4 金属基复合材料的界面 | 第13-14页 |
1.4.1 金属基复合材料的界面结构、反应及影响 | 第13-14页 |
1.4.2 金属基复合材料的界面优化 | 第14页 |
1.5 扩散机制 | 第14页 |
1.5.1 空位扩散机制 | 第14页 |
1.6 离子注入辐照损伤及合金化 | 第14-16页 |
1.6.1 辐照效应 | 第14页 |
1.6.2 金属离子注入技术 | 第14-15页 |
1.6.3 离子注入辐照损伤的特点 | 第15页 |
1.6.4 辐照损伤合金化 | 第15-16页 |
1.7 金属钼的性质 | 第16页 |
1.8 LEO 空间环境对空间飞行器的影响 | 第16-18页 |
1.8.1 空间原子氧环境对航天器表面侵蚀效应 | 第16-17页 |
1.8.2 冷黑环境 | 第17页 |
1.8.3 碎片/微流星环境 | 第17-18页 |
1.9 研究背景及意义、研究内容和创新点 | 第18-21页 |
1.9.1 研究背景及意义 | 第18-19页 |
1.9.2 研究内容 | 第19页 |
1.9.3 创新点 | 第19-21页 |
第二章 Mo/Pt/Ag层状金属基复合材料的制备研究 | 第21-41页 |
2.1 引言 | 第21-22页 |
2.2 实验原料和设备 | 第22-23页 |
2.3 Mo/Pt/Ag 层状金属基复合材料的制备 | 第23-29页 |
2.3.1 Mo箔的表面处理 | 第24-26页 |
2.3.2 Mo箔表面的镀覆与热处理 | 第26-29页 |
2.4 Mo/Pt/Ag 层状金属基复合材料的表征方法 | 第29页 |
2.4.1 能谱(EDS)分析 | 第29页 |
2.4.2 原子力显微镜(AFM) | 第29页 |
2.4.3 扫描电子显微镜(SEM) | 第29页 |
2.4.4 俄歇纳米扫描仪(AES) | 第29页 |
2.5 Mo/Pt/Ag 层状金属基复合材料焊接拉伸强度表征 | 第29-30页 |
2.5.1 电阻点焊机 | 第29页 |
2.5.2 拉力拉伸试验机 | 第29-30页 |
2.6 结果与讨论 | 第30-40页 |
2.6.1 Mo/Pt和Mo/Pt/Ag层状金属基复合材料的表面分析 | 第30-34页 |
2.6.2 Mo/Pt和Mo/Pt/Ag层状金属基复合材料的结构分析 | 第34-37页 |
2.6.3 Mo/Pt/Ag层状金属基复合材料拉伸强度及断口分析 | 第37-40页 |
2.7 本章小结 | 第40-41页 |
第三章 Mo/Ag系列层状金属基复合材料焊接拉伸强度的影响因素研究 | 第41-55页 |
3.1 引言 | 第41-42页 |
3.2 实验原料和设备 | 第42页 |
3.3 实验参数对比试验 | 第42-44页 |
3.3.1 表面镀覆技术的影响 | 第42页 |
3.3.2 退火工艺的影响 | 第42-43页 |
3.3.3 辐照损伤的影响 | 第43-44页 |
3.4 Mo/Ag 层状金属基复合材料的原子氧侵蚀实验 | 第44-45页 |
3.5 材料表征方法 | 第45-46页 |
3.5.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第45页 |
3.5.2 电阻点焊机 | 第45页 |
3.5.3 纳米压痕仪 | 第45-46页 |
3.5.4 拉力拉伸试验机 | 第46页 |
3.6 结果讨论与分析 | 第46-53页 |
3.6.1 Mo/Ag系列层状材料强度产生的机制 | 第46-48页 |
3.6.2 表面镀覆技术的影响 | 第48-50页 |
3.6.3 退火工艺的影响 | 第50-52页 |
3.6.4 Mo表面辐照损伤的影响 | 第52-53页 |
3.7 本章小结 | 第53-55页 |
第四章 辐照损伤结构及演化规律的慢正电子湮没研究 | 第55-64页 |
4.1 引言 | 第55-56页 |
4.2 实验原料和设备 | 第56-57页 |
4.3 样品制备 | 第57页 |
4.4 材料分析方法 | 第57-60页 |
4.4.1 慢正电子湮没测试 | 第57-59页 |
4.4.2 俄歇纳米扫描仪(AES) | 第59-60页 |
4.5 结果与讨论 | 第60-63页 |
4.5.1 离子注入辐照损伤的AES结果分析 | 第60-61页 |
4.5.2 离子注入辐照损伤的DB结果分析 | 第61-63页 |
4.6 本章小结 | 第63-64页 |
第五章 全文结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-70页 |
发表论文和科研情况说明 | 第70-71页 |
致谢 | 第71页 |