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考虑软错误率优化的FPGA自动逻辑综合算法及验证

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第12-18页
    1.1 本文研究背景及内容第12-14页
        1.1.1 FPGA 的可靠性问题第12-13页
        1.1.2 FPGA 验证第13-14页
    1.2 国内外研究现状第14-15页
    1.3 本文的主要工作第15-16页
    1.4 章节组织结构第16-18页
第2章 单粒子翻转及容软错误方法综述第18-28页
    2.1 单粒子翻转对 FPGA 的影响第18-25页
        2.1.1 单粒子翻转和软错误介绍第18-21页
        2.1.2 SFPGA 的结构及开发环境第21-24页
        2.1.3 单粒子翻转对 SFPGA 的影响第24-25页
    2.2 SFPGA 的容软错误研究进展第25-27页
    2.3 小结与思考第27-28页
第3章 基于软错误率评估的 SFPGA 装箱方法第28-40页
    3.1 相关研究工作第29-31页
    3.2 SER-TVPACK:基于软错误率评估的 SFPGA 装箱方法第31-35页
        3.2.1 错误传播概率 EPP 的计算第32页
        3.2.2 节点错误率 NER 的计算第32-33页
        3.2.3 SER-Tvpack 实现第33-35页
    3.3 实验验证环境第35-36页
    3.4 实验结果与分析第36-39页
    3.5 小结与思考第39-40页
第4章 FPGA 验证工程实践第40-53页
    4.1 集成电路功能验证技术概述第40-44页
    4.2 FPGA 验证工程概述第44页
    4.3 FPGA 验证工程流程第44-51页
        4.3.1 编码规则检查第45-47页
        4.3.2 仿真验证第47-48页
        4.3.3 逻辑等价性检查第48-49页
        4.3.4 静态定时分析第49-51页
    4.4 FPGA 验证结果第51-52页
    4.5 小结与思考第52-53页
总结与展望第53-56页
参考文献第56-61页
致谢第61-62页
附录A 读研期间发表学术论文及参与科研项目第62页

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