摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第12-18页 |
1.1 本文研究背景及内容 | 第12-14页 |
1.1.1 FPGA 的可靠性问题 | 第12-13页 |
1.1.2 FPGA 验证 | 第13-14页 |
1.2 国内外研究现状 | 第14-15页 |
1.3 本文的主要工作 | 第15-16页 |
1.4 章节组织结构 | 第16-18页 |
第2章 单粒子翻转及容软错误方法综述 | 第18-28页 |
2.1 单粒子翻转对 FPGA 的影响 | 第18-25页 |
2.1.1 单粒子翻转和软错误介绍 | 第18-21页 |
2.1.2 SFPGA 的结构及开发环境 | 第21-24页 |
2.1.3 单粒子翻转对 SFPGA 的影响 | 第24-25页 |
2.2 SFPGA 的容软错误研究进展 | 第25-27页 |
2.3 小结与思考 | 第27-28页 |
第3章 基于软错误率评估的 SFPGA 装箱方法 | 第28-40页 |
3.1 相关研究工作 | 第29-31页 |
3.2 SER-TVPACK:基于软错误率评估的 SFPGA 装箱方法 | 第31-35页 |
3.2.1 错误传播概率 EPP 的计算 | 第32页 |
3.2.2 节点错误率 NER 的计算 | 第32-33页 |
3.2.3 SER-Tvpack 实现 | 第33-35页 |
3.3 实验验证环境 | 第35-36页 |
3.4 实验结果与分析 | 第36-39页 |
3.5 小结与思考 | 第39-40页 |
第4章 FPGA 验证工程实践 | 第40-53页 |
4.1 集成电路功能验证技术概述 | 第40-44页 |
4.2 FPGA 验证工程概述 | 第44页 |
4.3 FPGA 验证工程流程 | 第44-51页 |
4.3.1 编码规则检查 | 第45-47页 |
4.3.2 仿真验证 | 第47-48页 |
4.3.3 逻辑等价性检查 | 第48-49页 |
4.3.4 静态定时分析 | 第49-51页 |
4.4 FPGA 验证结果 | 第51-52页 |
4.5 小结与思考 | 第52-53页 |
总结与展望 | 第53-56页 |
参考文献 | 第56-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
附录A 读研期间发表学术论文及参与科研项目 | 第62页 |