面向IC封装的在线检测理论与技术研究
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-32页 |
1.1 课题研究背景 | 第12-16页 |
1.2 课题研究目的和意义 | 第16-18页 |
1.3 IC封装检测的研究现状 | 第18-29页 |
1.3.1 目标定位算法研究现状 | 第18-22页 |
1.3.2 亚像素边缘定位算法研究现状 | 第22-24页 |
1.3.3 IC引脚共面度测量方法研究现状 | 第24-27页 |
1.3.4 IC塑封表面缺陷检测方法研究现状 | 第27-29页 |
1.4 论文的主要工作 | 第29-32页 |
第二章 基于快速BLOB分析的IC引脚定位算法 | 第32-55页 |
2.1 引言 | 第32页 |
2.2 定位算法流程 | 第32-35页 |
2.4 快速BLOB分析算法 | 第35-48页 |
2.4.1 数据结构设计 | 第35-36页 |
2.4.2 游程数据组织 | 第36-37页 |
2.4.3 连通性判断 | 第37-44页 |
2.4.4 搜索策略 | 第44页 |
2.4.5 算法运行结果 | 第44-45页 |
2.4.6 算法对比与讨论 | 第45-48页 |
2.5 实验分析 | 第48-54页 |
2.5.1 实验验证 | 第48-50页 |
2.5.2 实验结果与性能评估 | 第50-54页 |
2.6 本章小结 | 第54-55页 |
第三章 改进灰度矩的亚像素边缘定位算法 | 第55-64页 |
3.1 引言 | 第55页 |
3.2 一维灰度矩算法介绍 | 第55-57页 |
3.3 亚像素边缘定位算法 | 第57-59页 |
3.4 实验分析 | 第59-62页 |
3.4.1 模拟直线边缘定位算法对比 | 第59-61页 |
3.4.2 实物直线边缘定位算法对比 | 第61-62页 |
3.5 本章小结 | 第62-64页 |
第四章 单视场IC引脚共面度测量 | 第64-91页 |
4.1 引言 | 第64页 |
4.2 光学成像系统 | 第64-70页 |
4.2.1 成像光路设计 | 第64-66页 |
4.2.2 成像误差分析 | 第66-69页 |
4.2.3 成像系统特点 | 第69-70页 |
4.3 IC共面度测量算法 | 第70-77页 |
4.3.1 IC引脚共面度定义 | 第70-71页 |
4.3.2 算法流程 | 第71-72页 |
4.3.3 IC引脚顶端搜索方法 | 第72-74页 |
4.3.4 局部亚像素定位 | 第74页 |
4.3.5 系统校正算法 | 第74-77页 |
4.4 实验分析 | 第77-90页 |
4.4.1 实验平台 | 第77-78页 |
4.4.2 实验系统整定 | 第78-83页 |
4.4.3 测量结果 | 第83-85页 |
4.4.4 测量速度分析 | 第85-87页 |
4.4.5 IC引脚共面度测量系统比较 | 第87-89页 |
4.4.6 共面度测量结果不确定度分析 | 第89-90页 |
4.5 本章小结 | 第90-91页 |
第五章 IC引线框架塑封表面缺陷检测 | 第91-106页 |
5.1 引言 | 第91页 |
5.2 算法流程 | 第91-92页 |
5.3 图像畸变校正 | 第92-96页 |
5.3.1 理想投射模型 | 第92-94页 |
5.3.2 实际投射模型 | 第94-96页 |
5.4 塑封表面区域定位 | 第96-98页 |
5.4.1 边缘检测与倾斜校正 | 第96-97页 |
5.4.2 圆检测与目标定位 | 第97-98页 |
5.5 表面缺陷检测 | 第98-100页 |
5.5.1 统计模版图像的生成 | 第98-99页 |
5.5.2 缺陷判别 | 第99-100页 |
5.6 实验分析 | 第100-104页 |
5.6.1 图像采集系统 | 第100-101页 |
5.6.2 镜头畸变校正 | 第101页 |
5.6.3 塑封表面区域定位 | 第101-102页 |
5.6.4 缺陷检测 | 第102-103页 |
5.6.5 缺陷检测算法对比 | 第103-104页 |
5.7 本章小结 | 第104-106页 |
结论与展望 | 第106-109页 |
1 主要工作和结论 | 第106-107页 |
2 创新点 | 第107-108页 |
3 工作展望 | 第108-109页 |
参考文献 | 第109-119页 |
攻读博士学位期间发表的论文 | 第119-120页 |
致谢 | 第120-121页 |
附件 | 第121页 |