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40nm新型10管存储单元的研究及低功耗SRAM设计

中文摘要第4-5页
abstract第5-6页
第一章 绪论第9-20页
    1.1 研究背景第9-10页
        1.1.1 低功耗SRAM研究意义第9-10页
        1.1.2 低电压SRAM的重要性第10页
    1.2 SRAM存储单元第10-13页
        1.2.1 SRAM存储单元结构第10-12页
        1.2.2 6T SRAM存储单元基本操作第12-13页
    1.3 国内外低电压SRAM的研究现状第13-18页
        1.3.1 存储阵列外围辅助技术第14-15页
        1.3.2 改进的存储单元电路结构第15-18页
    1.4 论文的主要工作第18-19页
    1.5 论文的结构第19-20页
第二章 新型10管存储单元分析与设计第20-35页
    2.1 10 管存储单元结构第20-21页
    2.2 10 管存储单元基本操作第21-22页
        2.2.1 数据保持第21页
        2.2.2 读操作第21-22页
        2.2.3 写操作第22页
    2.3 存储单元尺寸设计第22-27页
    2.4 10 管存储单元性能第27-32页
        2.4.1 最大字线数目第28-29页
        2.4.2 静态噪声容限第29-31页
        2.4.3 写裕度第31-32页
    2.5 10 管存储单元最低工作电压第32-34页
    2.6 本章小结第34-35页
第三章 SRAM外围电路设计第35-51页
    3.1 16K SRAM整体电路结构第35-36页
    3.2 SRAM电路工作原理第36页
    3.3 灵敏放大器设计第36-41页
        3.3.1 常用电压型灵敏放大器第37-39页
        3.3.2 本设计灵敏放大器分析第39-41页
    3.4 译码电路设计第41-46页
        3.4.1 预译码器第42-44页
        3.4.2 译码器二级译码结构第44-45页
        3.4.3 2-4 终极译码器第45-46页
    3.5 时序控制电路设计第46-48页
    3.6 Tracking电路第48-50页
    3.7 本章小结第50-51页
第四章 仿真结果分析及版图设计第51-65页
    4.1 SRAM整体功能仿真第51-55页
        4.1.1 SRAM一次写入一次读出仿真结果第52-53页
        4.1.2 SRAM多次写入多次读出仿真结果第53-55页
    4.2 低电压下SRAM功能仿真第55-59页
    4.3 功耗仿真第59-60页
    4.4 读写时间仿真第60页
    4.5 SRAM版图设计第60-63页
        4.5.1 10T存储单元版图第60-61页
        4.5.2 16Kb SRAM版图及关键模块版图第61-63页
    4.6 SRAM性能分析第63-64页
    4.7 本章小结第64-65页
第五章 总结与展望第65-68页
    5.1 总结第65-66页
    5.2 展望第66-68页
参考文献第68-73页
攻读学位期间本人出版或公开发表的论著、论文第73-74页
致谢第74-75页

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