摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 课题背景 | 第10-11页 |
1.2 纳米电介质的国内外研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 纳米电介质的发展 | 第11-12页 |
1.2.2 介质空间电荷研究的发展概况 | 第12-13页 |
1.2.3 纳米电介质的陷阱特性 | 第13-14页 |
1.3 本论文的主要研究内容 | 第14-15页 |
第2章 实验材料与表征方法 | 第15-19页 |
2.1 实验原料与仪器 | 第15页 |
2.1.1 实验原料 | 第15页 |
2.1.2 实验仪器 | 第15页 |
2.2 结构表征方法 | 第15-16页 |
2.2.1 扫描电镜测试(SEM) | 第15-16页 |
2.2.2 X射线衍射测试(XRD) | 第16页 |
2.2.3 红外吸收光谱测试(FTIR) | 第16页 |
2.2.4 小角X射线散射测试(SAXS) | 第16页 |
2.3 性能测试方法 | 第16-18页 |
2.3.1 等温放电电流测试 | 第16-17页 |
2.3.2 体电阻率测试 | 第17页 |
2.3.3 电导电流测试 | 第17-18页 |
2.3.4 交流电导率测试 | 第18页 |
2.3.5 击穿场强测试 | 第18页 |
2.3.6 电晕老化性能测试 | 第18页 |
2.4 本章小结 | 第18-19页 |
第3章 PI/Al_2O_3纳米复合薄膜的制备与结构表征 | 第19-30页 |
3.1 三氧化二铝的结构与特性 | 第19-20页 |
3.1.1 三氧化二铝的结构 | 第19-20页 |
3.1.2 三氧化二铝的特性 | 第20页 |
3.2 聚酰亚胺的合成机理 | 第20-21页 |
3.3 复合薄膜的制备 | 第21-22页 |
3.4 PI/Al_2O_3复合薄膜的结构表征 | 第22-29页 |
3.4.1 复合薄膜形貌分析 | 第22-24页 |
3.4.2 复合薄膜化学结构分析 | 第24-26页 |
3.4.3 复合薄膜相结构分析 | 第26-27页 |
3.4.4 复合薄膜界面特性分析 | 第27-29页 |
3.5 本章小结 | 第29-30页 |
第4章 陷阱特性对复合薄膜电性能的影响 | 第30-43页 |
4.1 复合薄膜的陷阱特性 | 第30-33页 |
4.1.1 等温放电电流方法 | 第30-31页 |
4.1.2 复合薄膜陷阱特性分析 | 第31-33页 |
4.2 陷阱特性对电导特性的影响 | 第33-37页 |
4.2.1 陷阱特性对体电阻率的影响 | 第33-34页 |
4.2.2 陷阱特性对电导电流的影响 | 第34-36页 |
4.2.3 陷阱特性对交流电导率的影响 | 第36-37页 |
4.3 陷阱特性对击穿特性的影响 | 第37-39页 |
4.3.1 陷阱特性对击穿场强的影响(短时击穿) | 第37-38页 |
4.3.2 陷阱特性对耐电晕性能的影响(长时击穿) | 第38-39页 |
4.4 聚合物能带模型的建立 | 第39-41页 |
4.5 本章小结 | 第41-43页 |
结论 | 第43-44页 |
参考文献 | 第44-49页 |
攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第49-50页 |
致谢 | 第50页 |