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陷阱特性对聚酰亚胺/三氧化二铝电性能的影响

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-15页
    1.1 课题背景第10-11页
    1.2 纳米电介质的国内外研究现状第11-14页
        1.2.1 纳米电介质的发展第11-12页
        1.2.2 介质空间电荷研究的发展概况第12-13页
        1.2.3 纳米电介质的陷阱特性第13-14页
    1.3 本论文的主要研究内容第14-15页
第2章 实验材料与表征方法第15-19页
    2.1 实验原料与仪器第15页
        2.1.1 实验原料第15页
        2.1.2 实验仪器第15页
    2.2 结构表征方法第15-16页
        2.2.1 扫描电镜测试(SEM)第15-16页
        2.2.2 X射线衍射测试(XRD)第16页
        2.2.3 红外吸收光谱测试(FTIR)第16页
        2.2.4 小角X射线散射测试(SAXS)第16页
    2.3 性能测试方法第16-18页
        2.3.1 等温放电电流测试第16-17页
        2.3.2 体电阻率测试第17页
        2.3.3 电导电流测试第17-18页
        2.3.4 交流电导率测试第18页
        2.3.5 击穿场强测试第18页
        2.3.6 电晕老化性能测试第18页
    2.4 本章小结第18-19页
第3章 PI/Al_2O_3纳米复合薄膜的制备与结构表征第19-30页
    3.1 三氧化二铝的结构与特性第19-20页
        3.1.1 三氧化二铝的结构第19-20页
        3.1.2 三氧化二铝的特性第20页
    3.2 聚酰亚胺的合成机理第20-21页
    3.3 复合薄膜的制备第21-22页
    3.4 PI/Al_2O_3复合薄膜的结构表征第22-29页
        3.4.1 复合薄膜形貌分析第22-24页
        3.4.2 复合薄膜化学结构分析第24-26页
        3.4.3 复合薄膜相结构分析第26-27页
        3.4.4 复合薄膜界面特性分析第27-29页
    3.5 本章小结第29-30页
第4章 陷阱特性对复合薄膜电性能的影响第30-43页
    4.1 复合薄膜的陷阱特性第30-33页
        4.1.1 等温放电电流方法第30-31页
        4.1.2 复合薄膜陷阱特性分析第31-33页
    4.2 陷阱特性对电导特性的影响第33-37页
        4.2.1 陷阱特性对体电阻率的影响第33-34页
        4.2.2 陷阱特性对电导电流的影响第34-36页
        4.2.3 陷阱特性对交流电导率的影响第36-37页
    4.3 陷阱特性对击穿特性的影响第37-39页
        4.3.1 陷阱特性对击穿场强的影响(短时击穿)第37-38页
        4.3.2 陷阱特性对耐电晕性能的影响(长时击穿)第38-39页
    4.4 聚合物能带模型的建立第39-41页
    4.5 本章小结第41-43页
结论第43-44页
参考文献第44-49页
攻读硕士学位期间所发表的学术论文第49-50页
致谢第50页

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