| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 1 绪论 | 第11-36页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第11-13页 |
| 1.2 影响存储系统可靠性多种因素研究 | 第13-21页 |
| 1.3 磁盘可靠度的研究 | 第21-30页 |
| 1.4 磁盘使用度的研究 | 第30-31页 |
| 1.5 数据流行度的研究 | 第31-32页 |
| 1.6 磁盘温度和磁盘 I/0 负载的研究 | 第32-34页 |
| 1.7 本文的研究目的和主要内容 | 第34-35页 |
| 1.8 课题的来源 | 第35-36页 |
| 2 基于 SMART 技术的磁盘可靠度模型 | 第36-52页 |
| 2.1 引言 | 第36页 |
| 2.2 磁盘 SMART 技术 | 第36-40页 |
| 2.3 SMART 参数可靠度模型 | 第40-41页 |
| 2.4 磁盘可靠度模型 | 第41-43页 |
| 2.5 磁盘可靠度预警阈值 | 第43-50页 |
| 2.6 本章小结 | 第50-52页 |
| 3 基于 Zipf 定律的数据流行度模型 | 第52-69页 |
| 3.1 引言 | 第52-53页 |
| 3.2 数据流行度和磁盘使用度的确定 | 第53页 |
| 3.3 Zipf 定律原理 | 第53-54页 |
| 3.4 数据流行度预测模型 | 第54-58页 |
| 3.5 Zipf 定律中α和 C 参数的估计 | 第58-66页 |
| 3.6 预测将来时间 k 的估计 | 第66-67页 |
| 3.7 流行数据队列长度 Qp的估计 | 第67-68页 |
| 3.8 本章小结 | 第68-69页 |
| 4 基于 Hurst 指数的磁盘温度控制研究 | 第69-77页 |
| 4.1 引言 | 第69-70页 |
| 4.2 Hurst 指数原理 | 第70-71页 |
| 4.3 自相似理论 | 第71-72页 |
| 4.4 I/O trace 中自相似特点 | 第72-73页 |
| 4.5 Hurst 指数估计方法 | 第73-75页 |
| 4.6 本章小结 | 第75-77页 |
| 5 测试与分析 | 第77-106页 |
| 5.1 磁盘可靠度模型结果分析 | 第77-78页 |
| 5.2 数据流行度模型结果分析 | 第78-95页 |
| 5.3 结合磁盘可靠度、磁盘使用度和数据流行度可靠性方法 | 第95-99页 |
| 5.4 I/O 工作负载自相似性结果分析 | 第99-103页 |
| 5.5 结合磁盘温度和工作负载可靠性方法 | 第103-106页 |
| 6 全文总结 | 第106-109页 |
| 6.1 总结 | 第106-107页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第107-109页 |
| 致谢 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-125页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表论文目录 | 第125页 |