综合航电系统通用信号处理单元的设计与实现
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 课题的背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外航电系统研究现状 | 第10-12页 |
1.2.1 国外航电系统的研究现状 | 第10-11页 |
1.2.2 国内航电系统的研究现状 | 第11-12页 |
1.3 高速传输总线技术的发展 | 第12-14页 |
1.3.1 总线互连技术的发展 | 第12-13页 |
1.3.2 RapidIO技术的发展 | 第13-14页 |
1.4 论文的主要工作及内容安排 | 第14-15页 |
1.5 本章小结 | 第15-17页 |
第二章 通用信号处理单元总体设计 | 第17-23页 |
2.1 设计目标 | 第17页 |
2.2 主要技术指标 | 第17-21页 |
2.2.1 硬件主要要求 | 第17-18页 |
2.2.2 软件主要要求 | 第18-19页 |
2.2.3 接口主要要求 | 第19-20页 |
2.2.4 结构总体要求 | 第20-21页 |
2.3 总体设计方案 | 第21-22页 |
2.4 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 通用信号处理单元硬件设计 | 第23-43页 |
3.1 时钟系统硬件设计 | 第23-25页 |
3.1.1 时钟需求 | 第23-24页 |
3.1.2 时钟系统设计框图 | 第24-25页 |
3.2 电源系统硬件设计 | 第25-27页 |
3.2.1 电源需求 | 第25-26页 |
3.2.2 加电顺序 | 第26-27页 |
3.2.3 电源系统设计框图 | 第27页 |
3.3 复位系统硬件设计 | 第27-30页 |
3.3.1 复位需求 | 第28页 |
3.3.2 复位时序 | 第28-29页 |
3.3.3 复位系统设计框图 | 第29-30页 |
3.4 板卡环境检测硬件设计 | 第30-35页 |
3.4.1 温度检测设计 | 第30-32页 |
3.4.2 电流电压检测设计 | 第32-35页 |
3.5 存储器接口硬件设计 | 第35-37页 |
3.5.1 EEPROM硬件设计 | 第35-36页 |
3.5.2 FLASH硬件设计 | 第36-37页 |
3.6 CAN总线接口硬件设计 | 第37-38页 |
3.7 LVDS串行通信接口硬件设计 | 第38-41页 |
3.8 SRIO总线接口硬件设计 | 第41-42页 |
3.9 本章小结 | 第42-43页 |
第四章 通用信号处理单元FPGA设计与实现 | 第43-61页 |
4.1 时钟系统设计与实现 | 第43-47页 |
4.1.1 时钟配置 | 第43-45页 |
4.1.2 时钟选择 | 第45-47页 |
4.2 电源系统设计与实现 | 第47-49页 |
4.3 复位系统设计与实现 | 第49-51页 |
4.4 板卡环境检测设计与实现 | 第51-55页 |
4.4.1 电压电流检测 | 第51-53页 |
4.4.2 温度检测 | 第53-55页 |
4.5 LVDS串行通信接口设计与实现 | 第55-56页 |
4.6 CAN总线接口设计与实现 | 第56-60页 |
4.7 本章小结 | 第60-61页 |
第五章 串行RapidIO接口FPGA设计与实现 | 第61-81页 |
5.1 SRIO协议概述 | 第61-69页 |
5.1.1 RapidIO体系结构 | 第61-62页 |
5.1.2 RapidIO各层模式 | 第62-67页 |
5.1.3 RapidIO传输机制 | 第67-68页 |
5.1.4 RapidIO接口信号 | 第68-69页 |
5.2 SRIO核概述 | 第69-75页 |
5.2.1 IP核简介 | 第69页 |
5.2.2 IP核主要参数设置 | 第69-72页 |
5.2.3 IP核主要接口介绍 | 第72-75页 |
5.3 SRIO接口的设计与实现 | 第75-80页 |
5.3.1 SRIO接口总体设计 | 第75-76页 |
5.3.2 维护模块的设计与实现 | 第76-78页 |
5.3.3 请求模块的设计与实现 | 第78-79页 |
5.3.4 目标模块的设计与实现 | 第79-80页 |
5.4 本章小结 | 第80-81页 |
第六章 通用信号处理单元测试与结果分析 | 第81-95页 |
6.1 测试环境的搭建 | 第81-82页 |
6.2 测试与结果分析 | 第82-93页 |
6.2.1 时钟系统测试与分析 | 第82-83页 |
6.2.2 电源系统测试与分析 | 第83-84页 |
6.2.3 复位系统测试与分析 | 第84-85页 |
6.2.4 存储器接口测试与分析 | 第85-87页 |
6.2.5 板卡环境检测测试与分析 | 第87-88页 |
6.2.6 LVDS串行总线接口测试与分析 | 第88页 |
6.2.7 CAN总线接口测试与分析 | 第88-89页 |
6.2.8 SRIO总线接口测试与分析 | 第89-93页 |
6.3 本章小结 | 第93-95页 |
第七章 总结与展望 | 第95-97页 |
7.1 总结 | 第95页 |
7.2 展望 | 第95-97页 |
参考文献 | 第97-101页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第101-103页 |
致谢 | 第103页 |