| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第14-32页 |
| 1.1 课题研究的目的与意义 | 第14-15页 |
| 1.2 薄壁圆柱壳振动特性及其模态参数测试的研究现状 | 第15-22页 |
| 1.2.1 薄壁圆柱壳振动特性的理论研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 薄壁圆柱壳模态参数的试验研究现状 | 第16-22页 |
| 1.3 薄壁圆柱壳复杂边界问题的研究现状 | 第22-23页 |
| 1.4 薄壁圆柱壳模态参数测试技术的研究现状 | 第23-29页 |
| 1.5 本文的结构与主要研究内容 | 第29-32页 |
| 第2章 薄壁圆柱壳振动特性及其模态测试基本原理 | 第32-46页 |
| 2.1 概述 | 第32页 |
| 2.2 薄壁圆柱壳振动特性分析 | 第32-40页 |
| 2.2.1 薄壁圆柱壳振动特性分析的解析方法 | 第32-38页 |
| 2.2.2 薄壁圆柱壳振动特性分析的有限元法 | 第38-39页 |
| 2.2.3 计算实例与结果分析 | 第39-40页 |
| 2.3 薄壁圆柱壳模态测试原理 | 第40-43页 |
| 2.3.1 模态测试的基本理论 | 第40-42页 |
| 2.3.2 模态参数识别的基本理论 | 第42-43页 |
| 2.4 本章小结 | 第43-46页 |
| 第3章 基于压电陶瓷激励的薄壁圆柱壳高频固有频率的测试方法研究 | 第46-70页 |
| 3.1 概述 | 第46-47页 |
| 3.2 传统激励系统存在的不足 | 第47页 |
| 3.3 基于压电陶瓷激励的高频固有频率测试系统的设计与实现 | 第47-57页 |
| 3.3.1 压电陶瓷高频激励-反馈系统的设计与实现 | 第48-49页 |
| 3.3.2 压电陶瓷高频固有频率测试系统的设计与测试能力分析 | 第49-51页 |
| 3.3.3 压电陶瓷激振力的标定方法研究 | 第51-55页 |
| 3.3.4 压电陶瓷激振力的标定实例 | 第55-57页 |
| 3.4 基于压电陶瓷激励的薄壁圆柱壳高频固有频率测试方法研究 | 第57-60页 |
| 3.4.1 薄壁圆柱壳高频固有频率测试方法 | 第57-58页 |
| 3.4.2 薄壁圆柱壳高频固有频率测试流程 | 第58-60页 |
| 3.5 薄壁圆柱壳高频固有频率测试方法的验证 | 第60-64页 |
| 3.5.1 研究对象 | 第60-61页 |
| 3.5.2 测试过程和结果 | 第61-64页 |
| 3.5.3 测试结果分析 | 第64页 |
| 3.6 压电陶瓷激励下薄壁圆柱壳固有频率测试精度的影响分析 | 第64-68页 |
| 3.7 本章小结 | 第68-70页 |
| 第4章 基于激光旋转扫描的薄壁圆柱壳模态振型的快速测试方法研究 | 第70-86页 |
| 4.1 概述 | 第70页 |
| 4.2 传统振型测试方法存在的不足 | 第70-72页 |
| 4.3 激光旋转扫描振型测试系统的原理与设计 | 第72-76页 |
| 4.3.1 激光旋转扫描振型测试系统的基本原理 | 第72-73页 |
| 4.3.2 激光旋转扫描振型测试系统的设计与实现 | 第73-76页 |
| 4.4 基于激光旋转扫描的薄壁圆柱壳模态振型的测试方法研究 | 第76-80页 |
| 4.4.1 薄壁圆柱壳振型测试的方法及流程 | 第76-77页 |
| 4.4.2 薄壁圆柱壳处于共振状态的判别方法 | 第77-78页 |
| 4.4.3 薄壁圆柱壳振型数据的处理方法 | 第78-80页 |
| 4.5 基于激光旋转扫描的薄壁圆柱壳模态振型测试方法的验证 | 第80-82页 |
| 4.5.1 研究对象 | 第80页 |
| 4.5.2 测试过程和结果 | 第80-82页 |
| 4.5.3 测试结果分析 | 第82页 |
| 4.6 激光旋转扫描振型测试精度的影响分析 | 第82-83页 |
| 4.7 本章小结 | 第83-86页 |
| 第5章 基于基础激励的薄壁圆柱壳模态阻尼的高精度测试方法研究 | 第86-110页 |
| 5.1 概述 | 第86-87页 |
| 5.2 基于滑窗包络线法的薄壁圆柱壳阻尼测试方法研究 | 第87-90页 |
| 5.2.1 滑窗包络线法测试阻尼的原理 | 第87-88页 |
| 5.2.2 测试流程 | 第88-90页 |
| 5.3 基于频域带宽法的薄壁圆柱壳的阻尼测试方法研究 | 第90-95页 |
| 5.3.1 频域带宽法测试阻尼的原理 | 第90-92页 |
| 5.3.2 测试流程 | 第92-93页 |
| 5.3.3 扫频原始信号的频域变换方法 | 第93-94页 |
| 5.3.4 扫频速度准则 | 第94-95页 |
| 5.4 具有刚度非线性特征的圆柱壳结构的阻尼测试方法 | 第95-102页 |
| 5.4.1 具有刚度非线性特征的圆柱壳结构的振动特点 | 第96-97页 |
| 5.4.2 非线性刚度带宽法辨识阻尼的原理 | 第97-100页 |
| 5.4.3 测试流程 | 第100-102页 |
| 5.5 三种改进阻尼测试方法的验证及其对比分析 | 第102-109页 |
| 5.5.1 研究对象 | 第102-103页 |
| 5.5.2 滑窗包络线法的测试过程和结果 | 第103-104页 |
| 5.5.3 频域带宽法的测试过程和结果 | 第104-106页 |
| 5.5.4 非线性刚度带宽法的测试过程和结果 | 第106-107页 |
| 5.5.5 三种改进阻尼测试方法的测试结果分析 | 第107-108页 |
| 5.5.6 三种改进阻尼测试方法的对比分析 | 第108-109页 |
| 5.6 本章小结 | 第109-110页 |
| 第6章 联接边界下薄壁圆柱壳的模态参数测试及其影响分析 | 第110-134页 |
| 6.1 概述 | 第110-111页 |
| 6.2 联接边界下薄壁圆柱壳振动特性分析 | 第111-119页 |
| 6.2.1 研究对象 | 第111-112页 |
| 6.2.2 螺栓松动边界下薄壁圆柱壳振动特性分析 | 第112-115页 |
| 6.2.3 螺栓紧度边界下薄壁圆柱壳振动特性分析 | 第115-119页 |
| 6.3 联接边界下适合薄壁圆柱壳模态参数的测试方法和流程 | 第119-121页 |
| 6.4 联接边界对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第121-128页 |
| 6.4.1 螺栓松动边界对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第121-125页 |
| 6.4.2 螺栓紧度边界对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第125-128页 |
| 6.5 激励幅度对联接边界下薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第128-132页 |
| 6.5.1 激励幅度对薄壁圆柱壳固有频率的影响规律分析 | 第129-130页 |
| 6.5.2 激励幅度对薄壁圆柱壳阻尼的影响规律分析 | 第130-131页 |
| 6.5.3 激励幅度对薄壁圆柱壳模态振型的影响规律分析 | 第131-132页 |
| 6.6 本章小结 | 第132-134页 |
| 第7章 弹性边界下薄壁圆柱壳的模态参数测试及其影响分析 | 第134-158页 |
| 7.1 概述 | 第134页 |
| 7.2 弹性边界下薄壁圆柱壳振动特性分析 | 第134-140页 |
| 7.2.1 研究对象 | 第135-136页 |
| 7.2.2 弹性边界下薄壁圆柱壳振动特性分析 | 第136-140页 |
| 7.3 弹性边界下适合薄壁圆柱壳模态参数的测试方法和流程 | 第140-141页 |
| 7.4 弹性边界对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第141-153页 |
| 7.4.1 橡胶环块位置对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第141-145页 |
| 7.4.2 橡胶环带厚度对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第145-149页 |
| 7.4.3 橡胶环带宽度对薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第149-153页 |
| 7.5 激励幅度对弹性边界下薄壁圆柱壳模态参数的影响规律分析 | 第153-156页 |
| 7.5.1 激励幅度对薄壁圆柱壳固有频率的影响规律分析 | 第153-154页 |
| 7.5.2 激励幅度对薄壁圆柱壳阻尼的影响规律分析 | 第154-155页 |
| 7.5.3 激励幅度对薄壁圆柱壳模态振型的影响规律分析 | 第155-156页 |
| 7.6 本章小结 | 第156-158页 |
| 第8章 结论与展望 | 第158-164页 |
| 8.1 结论 | 第158-161页 |
| 8.2 主要创新点 | 第161-163页 |
| 8.3 展望 | 第163-164页 |
| 参考文献 | 第164-178页 |
| 致谢 | 第178-180页 |
| 附录A 作者简介 | 第180-182页 |
| 附录B 攻读博士期间发表与录用的学术论文 | 第182-183页 |
| 附录C 攻读博士期间获得荣誉与奖励 | 第183页 |
| 附录D 攻读博士期间参加的科研项目 | 第183页 |
| 附录E 攻读博士期间申请受理的专利 | 第183-184页 |
| 附录F 攻读博士期间申报成功的软件著作权 | 第184页 |
