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基于高阶统计的非线性故障诊断方法的研究

学位论文数据集第3-4页
摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第11-17页
    1.1 课题背景和意义第11-12页
    1.2 国内外研究现状第12-14页
        1.2.1 高阶统计方法概述第12-13页
        1.2.2 基于数据有向图概述第13-14页
        1.2.3 解释结构模型概述第14页
    1.3 课题研究内容第14-15页
    1.4 论文组织结构第15-17页
第二章 基于高阶统计(HOS)的非线性特征提取方法与改进第17-29页
    2.1 高阶统计分析方法第17-21页
        2.1.1 随机变量特征函数第17-18页
        2.1.2 高阶矩和高阶累积量第18页
        2.1.3 双谱第18-20页
        2.1.4 双相干谱第20-21页
    2.2 高阶统计的非线性指数第21-25页
        2.2.1 数据的选择第21-22页
        2.2.2 NGI指数第22-23页
        2.2.3 NLI指数第23-24页
        2.2.4 TN LI指数第24-25页
    2.3 非线性特征提取方法应用的改进第25-27页
    2.4 本章小结第27-29页
第三章 基于数据驱动的故障因素的解释结构模型第29-37页
    3.1 基于数据有向图的构建第29-32页
        3.1.1 数据标准化第29-30页
        3.1.2 偏相关系数矩阵的构建第30-31页
        3.1.3 邻接矩阵的构建第31-32页
        3.1.4 有向图的构建第32页
    3.2 解释结构模型(ISM)的构建第32-34页
        3.2.1 基于先验知识的邻接矩阵修正第33页
        3.2.2 可达矩阵的构建第33页
        3.2.3 解释结构模型的构建第33-34页
    3.3 本章小结第34-37页
第四章 基于ISM与HOS的控制系统非线性故障诊断方法第37-59页
    4.1 TE过程第37-41页
        4.1.1 TE过程简介第37-39页
        4.1.2 TE仿真模型的修改第39-41页
    4.2 基于TE过程控制回路有向图的构建第41-44页
        4.2.1 基于先验知识有向图第41-42页
        4.2.2 基于偏相关系数有向图第42-44页
        4.2.3 结合先验知识和偏相关系数修正邻接矩阵第44页
    4.3 基于TE过程的ISM的构建第44-45页
    4.4 ISM与HOS方法的结合第45-46页
    4.5 不同故障类型的非线性诊断第46-57页
        4.5.1 案例1-IDV(4)第47-50页
        4.5.2 案例2-IDV(11)第50-52页
        4.5.3 案例3-IDV(14)第52-54页
        4.5.4 案例4-IDV(12)第54-57页
    4.6 方法优缺点比较第57-58页
    4.7 本章小结第58-59页
第五章 总结与展望第59-61页
    5.1 全文总结第59-60页
    5.2 展望第60-61页
参考文献第61-65页
致谢第65-67页
研究成果及发表的学术论文第67-69页
作者和导师简介第69-70页
附件第70-71页

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