| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题的研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外的研究概况 | 第10-11页 |
| 1.3 J-TEXT进行共振磁扰动对逃逸电子影响的基础 | 第11-16页 |
| 1.4 本文主要内容 | 第16-17页 |
| 2 逃逸电子理论基础 | 第17-27页 |
| 2.1 逃逸电子的形成 | 第17-19页 |
| 2.2 初级产生机制 | 第19-21页 |
| 2.3 次级产生机制 | 第21-23页 |
| 2.4 逃逸电子的运动轨道 | 第23-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-27页 |
| 3 共振扰动场对磁拓扑结构的影响 | 第27-39页 |
| 3.1 扰动场线圈 | 第27-30页 |
| 3.2 磁力线公式推导 | 第30-32页 |
| 3.3 扰动场对磁力线轨迹的影响 | 第32-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-39页 |
| 4 共振扰动场对逃逸电子的影响 | 第39-53页 |
| 4.1 小尺度湍流模型 | 第39-40页 |
| 4.2 逃逸电子公式推导 | 第40-45页 |
| 4.3 磁面的漂移 | 第45-48页 |
| 4.4 共振扰动场时逃逸电子运动轨迹的影响 | 第48-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 5 逃逸电子的损失率与实验结果的对比 | 第53-61页 |
| 5.1 逃逸电子的径向输运 | 第53页 |
| 5.2 逃逸电子的损失率 | 第53-57页 |
| 5.3 J-TEXT的逃逸电子诊断系统 | 第57-58页 |
| 5.4 共振扰动场对逃逸电子影响的实验 | 第58-60页 |
| 5.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 6 总结和展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表论文 | 第69页 |