| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第15-38页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第15-16页 |
| 1.2 局域表面等离子体共振的基本原理 | 第16-18页 |
| 1.3 贵金属纳米粒子局域表面等离子体共振行为 | 第18-25页 |
| 1.3.1 局域表面等离子体共振的影响因素 | 第18-24页 |
| 1.3.2 局域表面等离子体共振行为的模拟 | 第24-25页 |
| 1.4 贵金属纳米粒子的溶液合成方法 | 第25-31页 |
| 1.4.1 Au纳米棒 | 第26-30页 |
| 1.4.2 Ag纳米片 | 第30-31页 |
| 1.5 基于局域表面等离子体共振的传感器的研究现状 | 第31-36页 |
| 1.5.1 基于纳米粒子介电环境变化的传感器 | 第32-33页 |
| 1.5.2 基于纳米粒子形貌变化的传感器 | 第33-34页 |
| 1.5.3 基于纳米粒子组装行为的传感器 | 第34-35页 |
| 1.5.4 基于局域表面等离子体共振的压力传感器 | 第35-36页 |
| 1.6 本文的主要研究内容 | 第36-38页 |
| 第2章 试验材料及方法 | 第38-44页 |
| 2.1 试验用化学试剂 | 第38页 |
| 2.2 贵金属纳米粒子合成方法 | 第38-40页 |
| 2.2.1 种子生长法合成Au纳米棒工艺 | 第38-39页 |
| 2.2.2 种子生长法合成Ag纳米片工艺 | 第39页 |
| 2.2.3 种子生长法合成Ag@Au复合纳米片工艺 | 第39-40页 |
| 2.2.4 热注入法合成Au纳米颗粒工艺 | 第40页 |
| 2.3 贵金属纳米粒子/高分子复合薄膜制备方法 | 第40-41页 |
| 2.3.1 Au纳米棒/高分子复合薄膜 | 第40页 |
| 2.3.2 Ag@Au复合纳米片/高分子复合薄膜 | 第40-41页 |
| 2.4 分析表征方法 | 第41-42页 |
| 2.4.1 形貌观察和结构分析 | 第41-42页 |
| 2.4.2 溶液光谱分析 | 第42页 |
| 2.5 受压条件下复合薄膜原位光谱分析 | 第42-43页 |
| 2.6 离散偶极子近似法模拟 | 第43-44页 |
| 第3章 基于金银纳米粒子取向的高分子复合薄膜的设计与制备 | 第44-66页 |
| 3.1 引言 | 第44页 |
| 3.2 金银纳米粒子局域表面等离子体共振的模拟 | 第44-47页 |
| 3.3 基于金银纳米粒子取向的压力敏感薄膜的设计 | 第47-50页 |
| 3.4 金银纳米粒子的制备与表征 | 第50-60页 |
| 3.4.1 Au纳米棒 | 第50-51页 |
| 3.4.2 Ag纳米片 | 第51-55页 |
| 3.4.3 Ag@Au复合纳米片 | 第55-58页 |
| 3.4.4 Au纳米颗粒 | 第58-60页 |
| 3.5 金银纳米粒子/高分子复合薄膜的制备与表征 | 第60-65页 |
| 3.5.1 Au纳米棒/PVA复合薄膜 | 第60-61页 |
| 3.5.2 Ag@Au复合纳米片/PVP复合薄膜 | 第61-65页 |
| 3.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第4章 基于金银纳米粒子取向的高分子复合薄膜压力敏感行为的试验研究 | 第66-85页 |
| 4.1 引言 | 第66页 |
| 4.2 压力作用下薄膜消光光谱的变化规律及分析 | 第66-72页 |
| 4.3 基于Au纳米棒取向的高分子复合薄膜压力敏感行为的试验研究 | 第72-78页 |
| 4.3.1 施压时间与压力大小的影响 | 第73-75页 |
| 4.3.2 Au纳米棒长径比的影响 | 第75-76页 |
| 4.3.3 PEG含量的影响 | 第76-77页 |
| 4.3.4 薄膜厚度的影响 | 第77-78页 |
| 4.4 基于Ag@Au复合纳米片取向的高分子复合薄膜压力敏感行为的试验研究 | 第78-83页 |
| 4.4.1 施压时间与压力大小的影响 | 第78-81页 |
| 4.4.2 PEG含量的影响 | 第81-82页 |
| 4.4.3 Au壳层厚度的影响 | 第82-83页 |
| 4.5 本章小结 | 第83-85页 |
| 第5章 基于金银纳米粒子取向的高分子复合薄膜压力敏感行为的数值模拟 | 第85-109页 |
| 5.1 引言 | 第85页 |
| 5.2 平面拉伸流场条件下粒子取向与形变量关系的推导 | 第85-88页 |
| 5.3 基于Au纳米棒取向的高分子复合薄膜压力敏感行为的数值模拟 | 第88-96页 |
| 5.3.1 Au纳米棒共振峰峰强随角度的变化 | 第88页 |
| 5.3.2 Au纳米棒在不同形变量下的角度变化 | 第88-89页 |
| 5.3.3 形变量与共振峰比值变化率的关系 | 第89-90页 |
| 5.3.4 形变量和共振峰比值变化率随压力和时间的变化 | 第90-95页 |
| 5.3.5 Au纳米棒长径比对共振峰比值变化率的影响 | 第95-96页 |
| 5.3.6 PEG含量对复合薄膜模量的影响 | 第96页 |
| 5.4 基于Ag纳米片取向的高分子复合薄膜压力敏感行为的数值模拟 | 第96-106页 |
| 5.4.1 Ag纳米片共振峰峰强随角度的变化 | 第96-100页 |
| 5.4.2 Ag纳米片在不同形变量下的角度变化 | 第100页 |
| 5.4.3 形变量与共振峰比值变化率的关系 | 第100-101页 |
| 5.4.4 形变量和共振峰比值变化率随压力和时间的变化 | 第101-106页 |
| 5.4.5 PEG含量对复合薄膜模量的影响 | 第106页 |
| 5.5 本章小结 | 第106-109页 |
| 结论 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-122页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第122页 |
| 发表的其它论文 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |
| 个人简历 | 第125页 |
