| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 THz及THz-TDS技术 | 第9-10页 |
| 1.2 THz-TDS系统组成 | 第10-14页 |
| 1.2.1 THz信号的产生 | 第12页 |
| 1.2.2 THz信号的探测 | 第12-13页 |
| 1.2.3 等效时间采样原理 | 第13-14页 |
| 1.3 快速THz-TDS技术的发展 | 第14-15页 |
| 1.4 本论文的主要工作及创新点 | 第15-16页 |
| 第二章 快速光学延迟线的设计及误差分析 | 第16-42页 |
| 2.1 快速光学延迟线的指标参数 | 第16-17页 |
| 2.2 快速光学延迟线的基本原理及延迟距离分析 | 第17-20页 |
| 2.2.1 基本原理 | 第17-18页 |
| 2.2.2 延迟距离分析 | 第18-20页 |
| 2.3 快速光学延迟线的转轴及装置结构分析 | 第20-25页 |
| 2.3.1 转轴设计 | 第20-24页 |
| 2.3.2 装置结构设计 | 第24-25页 |
| 2.4 快速光学延迟线的偏心误差分析 | 第25-35页 |
| 2.4.1 Y轴偏心位置理论分析 | 第25-28页 |
| 2.4.2 X轴偏心位置理论分析 | 第28-31页 |
| 2.4.3 平面反射镜误差分析 | 第31-35页 |
| 2.5 快速光学延迟线的光斑畸变分析 | 第35-39页 |
| 2.6 快速光学延迟线的出射光斑位置偏差分析 | 第39-40页 |
| 2.7 本章小结 | 第40-42页 |
| 第三章 快速光学延迟线的测试与分析 | 第42-48页 |
| 3.1 性能参数的测试与分析 | 第42-44页 |
| 3.2 应用分析 | 第44-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 相位漂移补偿型自适应数字锁相放大器的设计 | 第48-55页 |
| 4.1 互相关检测原理及单PSD数字锁相放大器的设计 | 第48-49页 |
| 4.2 正交矢量型锁相放大器的设计 | 第49-51页 |
| 4.3 相位漂移补偿算法设计 | 第51-53页 |
| 4.4 过采样技术 | 第53-54页 |
| 4.4.1 过采样技术提高信噪比 | 第53页 |
| 4.4.2 过采样技术提高ADC的分辨率 | 第53-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 实验与结果分析 | 第55-73页 |
| 5.1 正弦信号模拟实验 | 第55-60页 |
| 5.2 THz信号探测实验 | 第60-64页 |
| 5.3 相位漂移补偿算法处理与分析 | 第64-72页 |
| 5.4 本章总结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 总结 | 第73-74页 |
| 6.2 展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |