摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
引言 | 第9-11页 |
1 绪论 | 第11-21页 |
1.1 硫系玻璃材料 | 第11-13页 |
1.1.1 硫系玻璃材料的分类 | 第11页 |
1.1.2 硫系玻璃的特性 | 第11-13页 |
1.2 硫系玻璃的研究背景及现状 | 第13-17页 |
1.2.1 硫系玻璃中的结构和缺陷研究 | 第14-15页 |
1.2.2 硫系玻璃性能与结构关系 | 第15-17页 |
1.2.3 硫系玻璃的应用 | 第17页 |
1.3 Ge-Sb-Se硫系薄膜的综合特性 | 第17-18页 |
1.3.1 Ge-Sb-Se薄膜的结构 | 第17-18页 |
1.3.2 Ge-Sb-Se材料的应用 | 第18页 |
1.4 硫系玻璃的光致变化 | 第18-20页 |
1.5 选题的目的及研究的内容 | 第20-21页 |
2 硫系薄膜光致变化的测试方法及其理论基础 | 第21-24页 |
2.1 硫系薄膜光致变化的测试方法 | 第21-22页 |
2.2 LabVIEW软件 | 第22页 |
2.3 硫系薄膜光致变化的动力学参数 | 第22-24页 |
3 Ge-Sb-Se薄膜的制备方法及性能表征 | 第24-29页 |
3.1 Ge-Se玻璃靶材的制备方法 | 第24页 |
3.2 Ge-Sb-Se非晶薄膜的制备 | 第24-26页 |
3.3 薄膜性能表征 | 第26-29页 |
3.3.1 薄膜厚度以及粗糙度测试 | 第26-27页 |
3.3.2 薄膜组分EDS测试分析 | 第27页 |
3.3.3 X射线衍射测试 | 第27页 |
3.3.4 可见光透过光谱测试 | 第27-28页 |
3.3.5 拉曼光谱测试 | 第28-29页 |
4 Sb掺杂的GeSe_2薄膜制备、性能及光致变化研究 | 第29-45页 |
4.1 引言 | 第29-30页 |
4.2 薄膜样品制备及结构分析 | 第30-31页 |
4.3 薄膜可见 -近红外透过光谱分析 | 第31-38页 |
4.3.1 GeSe_2与Ge-Sb-Se薄膜的透过光谱 | 第31-32页 |
4.3.2 排除测试实验中可能存在的热效应实验 | 第32-34页 |
4.3.3 薄膜的实时透过率光谱测试 | 第34-37页 |
4.3.4 薄膜光致暗化和光致漂白的动力学研究 | 第37-38页 |
4.4 拉曼结构分析 | 第38-43页 |
4.5 本章小结 | 第43-45页 |
5 Sb掺杂的GeSe_4薄膜制备、性能及光致变化研究 | 第45-54页 |
5.1 引言 | 第45页 |
5.2 薄膜样品制备 | 第45-46页 |
5.3 薄膜可见 -近红外透过光谱分析 | 第46-50页 |
5.3.1 GeSe_4与Ge-Sb-Se薄膜的透过光谱 | 第46-47页 |
5.3.2 薄膜的实时透过率光谱测试 | 第47-50页 |
5.4 拉曼结构分析 | 第50-51页 |
5.5 泵浦激光功率密度对薄膜光致变化的影响 | 第51-52页 |
5.6 本章小结 | 第52-54页 |
6 总结 | 第54-56页 |
参考文献 | 第56-61页 |
在学研究成果 | 第61-62页 |
致谢 | 第62-63页 |