盖革模式雪崩光电二极管淬灭电路设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第10-12页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第12-14页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第12页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第12-14页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 SPAD传感检测基础 | 第15-29页 |
| 2.1 SPAD器件原理 | 第15-18页 |
| 2.1.1 SPAD雪崩倍增 | 第15-16页 |
| 2.1.2 SPAD分类 | 第16-17页 |
| 2.1.3 SPAD特性参数 | 第17-18页 |
| 2.2 SPAD器件模型与仿真 | 第18-23页 |
| 2.2.1 SPAD的基本模型 | 第19-20页 |
| 2.2.2 SPAD的改进模型与仿真 | 第20-23页 |
| 2.3 SPAD淬灭原理 | 第23-25页 |
| 2.4 SPAD阵列式淬灭电路常见结构 | 第25-28页 |
| 2.4.1 MOS电阻感应 | 第25-27页 |
| 2.4.2 寄生电容感应 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 集成淬灭电路设计 | 第29-47页 |
| 3.1 大阵列淬灭电路基本要求 | 第29-31页 |
| 3.1.1 SPAD阵列混合集成 | 第29-30页 |
| 3.1.2 淬灭电路基本要求 | 第30-31页 |
| 3.2 淬灭电路关键参数指标 | 第31-34页 |
| 3.2.1 检测延迟 | 第31-32页 |
| 3.2.2 动态功耗 | 第32-33页 |
| 3.2.3 时间抖动 | 第33-34页 |
| 3.3 电容感应淬灭电路设计 | 第34-42页 |
| 3.3.1 电容检测原理 | 第34-37页 |
| 3.3.2 淬灭电路基本架构 | 第37-38页 |
| 3.3.3 电容感应淬灭电路设计 | 第38-42页 |
| 3.4 仿真结果与分析 | 第42-45页 |
| 3.5 版图设计与后仿验证 | 第45-46页 |
| 3.7 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 SPAD偏置电压调节电路设计 | 第47-67页 |
| 4.1 SPAD击穿电压非均匀性的影响 | 第47-48页 |
| 4.2 SPAD偏置电压调节电路设计 | 第48-62页 |
| 4.2.1 偏置电压调节的基本架构 | 第48-49页 |
| 4.2.2 淬灭电路的改进与仿真 | 第49-52页 |
| 4.2.3 DAC的设计与仿真 | 第52-56页 |
| 4.2.4 DAC输出Buffer的设计与仿真 | 第56-60页 |
| 4.2.5 IN点输出Buffer的设计 | 第60-61页 |
| 4.2.6 可调偏置电路的系统仿真 | 第61-62页 |
| 4.3 版图与后仿真 | 第62-65页 |
| 4.3.1 版图设计 | 第62-64页 |
| 4.3.2 后仿真 | 第64-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 第五章 测试与分析 | 第67-79页 |
| 5.1 测试环境与平台 | 第67-69页 |
| 5.2 集成淬灭电路的测试与分析 | 第69-75页 |
| 5.2.1 未接探测器测试 | 第69-73页 |
| 5.2.2 接传感器测试 | 第73-74页 |
| 5.2.3 测试总结 | 第74-75页 |
| 5.3 偏置电压调节芯片的测试与分析 | 第75-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 6.1 论文总结 | 第79-80页 |
| 6.2 研究展望 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第87页 |
