基于无源RFID标签的低功耗温度传感器设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-18页 |
| 1.1.1 RFID研究背景 | 第15-17页 |
| 1.1.2 温度传感器的研究背景 | 第17-18页 |
| 1.2 温度传感器的主要性能 | 第18页 |
| 1.3 设计面临的难点和挑战 | 第18-19页 |
| 1.4 论文的主要工作以及结构 | 第19-21页 |
| 第二章 无源RFID原理与架构 | 第21-27页 |
| 2.1 RFID系统的基本构架以及原理 | 第21-23页 |
| 2.2 温度传感器设计原理 | 第23-24页 |
| 2.3 标签芯片架构 | 第24-25页 |
| 2.4 小结 | 第25-27页 |
| 第三章 CMOS温度检测模块设计 | 第27-41页 |
| 3.1 PTAT/CTAT--电压/电流产生原理 | 第27-31页 |
| 3.1.1 传统CMOS工艺PNP晶体管 | 第27-28页 |
| 3.1.2 工作在亚阈值区的MOS管 | 第28-31页 |
| 3.2 CMOS温度检测电路 | 第31-33页 |
| 3.2.1 常见的CMOS温度传感器结构 | 第31-33页 |
| 3.2.2 改进后的温度传感器结构 | 第33页 |
| 3.3 带隙基准 | 第33-36页 |
| 3.3.1 传统的带隙基准电路 | 第33-35页 |
| 3.3.2 低功耗带隙基准 | 第35-36页 |
| 3.4 改进后的温度检测电路 | 第36-37页 |
| 3.5 仿真结果 | 第37-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 CMOS温度量化电路设计 | 第41-69页 |
| 4.1 模数转换器（ADC）概述 | 第41-48页 |
| 4.1.1 ADC简介 | 第41-42页 |
| 4.1.2 ADC的主要类型 | 第42-45页 |
| 4.1.3 ADC性能参数 | 第45-48页 |
| 4.2 DAC阵列及开关时序的设计 | 第48-55页 |
| 4.3 其它的低功耗模拟模块 | 第55-63页 |
| 4.3.1 低动态失调电压的锁存比较器 | 第55-58页 |
| 4.3.2 采样/保持开关电路 | 第58-63页 |
| 4.4 SAR数字控制逻辑 | 第63-64页 |
| 4.5 SAR ADC整体仿真 | 第64-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-69页 |
| 第五章 整体电路仿真与分析 | 第69-73页 |
| 5.1 温度传感器整体架构 | 第69-70页 |
| 5.2 仿真结果与分析 | 第70-72页 |
| 5.3 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 工作总结 | 第73-74页 |
| 6.2 未来的展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 作者简介 | 第81-82页 |
