基于周期窄脉冲的系统频率特性测量方法研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 引言 | 第9-15页 |
1.1 系统频率特性测量原理及意义 | 第9-11页 |
1.1.1 频率特性测量的原理 | 第9-11页 |
1.1.2 频率特性测量的意义 | 第11页 |
1.2 系统频率特性测量的方法与研究现状 | 第11-13页 |
1.2.1 点频测量 | 第11-12页 |
1.2.2 扫频测量 | 第12-13页 |
1.3 冲激响应法测量 | 第13页 |
1.4 本文的研究内容 | 第13-14页 |
1.5 本章小结 | 第14-15页 |
2 冲激响应测量法理论分析 | 第15-29页 |
2.1 冲激响应测量法理论介绍 | 第15-18页 |
2.1.1 单位冲激信号 | 第15-16页 |
2.1.2 冲激响应测量法 | 第16-17页 |
2.1.3 冲激响应测量法的MATLAB仿真验证 | 第17-18页 |
2.2 周期矩形脉冲模拟冲激信号 | 第18-28页 |
2.2.1 周期矩形脉冲信号分析 | 第18-21页 |
2.2.2 周期矩形脉冲模拟冲激信号的误差分析 | 第21-22页 |
2.2.3 频率特性测量的可行性分析 | 第22-28页 |
2.3 本章小结 | 第28-29页 |
3 常用窄脉冲信号产生方法 | 第29-38页 |
3.1 雪崩晶体管法 | 第29-32页 |
3.1.1 晶体管的雪崩击穿特性 | 第29-30页 |
3.1.2 雪崩晶体管产生窄脉冲信号方法 | 第30-32页 |
3.2 传输线法 | 第32-35页 |
3.2.1 传输线理论介绍 | 第32-33页 |
3.2.2 传输线产生窄脉冲信号方法 | 第33-35页 |
3.3 锁相环法 | 第35-37页 |
3.3.1 锁相环的基本原理 | 第35-37页 |
3.3.2 锁相环产生窄脉冲信号方法 | 第37页 |
3.4 本章小结 | 第37-38页 |
4 基于FPGA的周期窄脉冲信号产生方法 | 第38-47页 |
4.1 可重配置锁相环原理 | 第38-40页 |
4.2 频率和脉宽可调的周期窄脉冲产生 | 第40-44页 |
4.2.1 相位重配置 | 第40-42页 |
4.2.2 频率重配置 | 第42-44页 |
4.3 周期窄脉冲信号的测量 | 第44-46页 |
4.3.1 时域测量 | 第44-45页 |
4.3.2 频域测量 | 第45-46页 |
4.4 本章小结 | 第46-47页 |
5 系统实现与测试 | 第47-68页 |
5.1 系统构成 | 第47-53页 |
5.1.1 FPGA主控电路 | 第47-49页 |
5.1.2 ADC数据采集电路 | 第49-50页 |
5.1.3 上位机数据处理 | 第50-51页 |
5.1.4 待测滤波器设计 | 第51-53页 |
5.2 系统测试 | 第53-67页 |
5.2.1 低通滤波器频率特性测量 | 第53-60页 |
5.2.2 带通滤波器频率特性测量 | 第60-67页 |
5.3 本章小结 | 第67-68页 |
6 总结与展望 | 第68-70页 |
6.1 本文的主要工作 | 第68页 |
6.2 不足之处及展望 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
在学期间公开发表论文及著作情况 | 第73页 |