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基于周期窄脉冲的系统频率特性测量方法研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 引言第9-15页
    1.1 系统频率特性测量原理及意义第9-11页
        1.1.1 频率特性测量的原理第9-11页
        1.1.2 频率特性测量的意义第11页
    1.2 系统频率特性测量的方法与研究现状第11-13页
        1.2.1 点频测量第11-12页
        1.2.2 扫频测量第12-13页
    1.3 冲激响应法测量第13页
    1.4 本文的研究内容第13-14页
    1.5 本章小结第14-15页
2 冲激响应测量法理论分析第15-29页
    2.1 冲激响应测量法理论介绍第15-18页
        2.1.1 单位冲激信号第15-16页
        2.1.2 冲激响应测量法第16-17页
        2.1.3 冲激响应测量法的MATLAB仿真验证第17-18页
    2.2 周期矩形脉冲模拟冲激信号第18-28页
        2.2.1 周期矩形脉冲信号分析第18-21页
        2.2.2 周期矩形脉冲模拟冲激信号的误差分析第21-22页
        2.2.3 频率特性测量的可行性分析第22-28页
    2.3 本章小结第28-29页
3 常用窄脉冲信号产生方法第29-38页
    3.1 雪崩晶体管法第29-32页
        3.1.1 晶体管的雪崩击穿特性第29-30页
        3.1.2 雪崩晶体管产生窄脉冲信号方法第30-32页
    3.2 传输线法第32-35页
        3.2.1 传输线理论介绍第32-33页
        3.2.2 传输线产生窄脉冲信号方法第33-35页
    3.3 锁相环法第35-37页
        3.3.1 锁相环的基本原理第35-37页
        3.3.2 锁相环产生窄脉冲信号方法第37页
    3.4 本章小结第37-38页
4 基于FPGA的周期窄脉冲信号产生方法第38-47页
    4.1 可重配置锁相环原理第38-40页
    4.2 频率和脉宽可调的周期窄脉冲产生第40-44页
        4.2.1 相位重配置第40-42页
        4.2.2 频率重配置第42-44页
    4.3 周期窄脉冲信号的测量第44-46页
        4.3.1 时域测量第44-45页
        4.3.2 频域测量第45-46页
    4.4 本章小结第46-47页
5 系统实现与测试第47-68页
    5.1 系统构成第47-53页
        5.1.1 FPGA主控电路第47-49页
        5.1.2 ADC数据采集电路第49-50页
        5.1.3 上位机数据处理第50-51页
        5.1.4 待测滤波器设计第51-53页
    5.2 系统测试第53-67页
        5.2.1 低通滤波器频率特性测量第53-60页
        5.2.2 带通滤波器频率特性测量第60-67页
    5.3 本章小结第67-68页
6 总结与展望第68-70页
    6.1 本文的主要工作第68页
    6.2 不足之处及展望第68-70页
参考文献第70-72页
致谢第72-73页
在学期间公开发表论文及著作情况第73页

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