基于STM32的减振器性能测试系统的研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| ·本课题的背景及研究意义 | 第9-10页 |
| ·国内外减振器性能测试系统的研究现状 | 第10-11页 |
| ·本文研究的目标和内容 | 第11-12页 |
| ·本章小结 | 第12-13页 |
| 2 减振器性能测试系统总体方案设计 | 第13-19页 |
| ·减振器的工作原理及其性能要求 | 第13页 |
| ·减振器性能测试系统总体设计 | 第13-15页 |
| ·减振器性能测试的主要内容 | 第13-14页 |
| ·系统框架的总体设计 | 第14-15页 |
| ·减振器性能测试系统的特点 | 第15页 |
| ·减振器性能测试系统的精度设计 | 第15-18页 |
| ·基于最小二乘法的传感器标定原理 | 第15-16页 |
| ·利用过采样技术提高ADC的分辨率 | 第16-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 3 减振器性能测试系统硬件设计 | 第19-36页 |
| ·激振加载系统及其控制方法 | 第19-21页 |
| ·STM32处理器选型及Cortex-M3介绍 | 第21-23页 |
| ·ARM Cortex-M3主要技术参数 | 第21-22页 |
| ·STM32微处理器选型 | 第22-23页 |
| ·基于STM32微处理器的外围电路 | 第23-25页 |
| ·系统使用的STM32外设 | 第25-26页 |
| ·片内模拟数字转换器ADC同步采样 | 第25页 |
| ·利用定时器TIM实现精确定时采集 | 第25-26页 |
| ·拉压力传感器、位移传感器及接近开关的选型 | 第26-27页 |
| ·阻尼力和位移信号的调理电路 | 第27-28页 |
| ·基于SDIO接口的SD卡存储电路设计 | 第28-30页 |
| ·串行通信模块 | 第30-31页 |
| ·YL-100无线传输模块在测试的应用 | 第31-32页 |
| ·无线数传模块的选型 | 第31-32页 |
| ·YL-100IL模块参数的设置 | 第32页 |
| ·JTAG调试接口 | 第32-33页 |
| ·系统电源设计 | 第33-34页 |
| ·系统抗干扰设计 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 4 减振器性能测试下位机软件设计 | 第36-48页 |
| ·减振器测试系统软件总体设计方案 | 第36页 |
| ·模数转换器ADC双通道同步采集程序 | 第36-39页 |
| ·定时器TIM1定时采集子程序 | 第39-40页 |
| ·串行通信子程序 | 第40-41页 |
| ·SD卡底层驱动与文件系统FatFs的移植 | 第41-47页 |
| ·SD卡应用配置与底层驱动 | 第41-43页 |
| ·FatFs文件系统的移植 | 第43-46页 |
| ·FatFs文件系统的应用程序设计 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 减振器性能分析上位机管理软件设计 | 第48-62页 |
| ·减振器上位机管理程序结构设计 | 第48页 |
| ·用户登录界面程序的设计 | 第48-49页 |
| ·上位机与下位机和变频器通信实现 | 第49-50页 |
| ·C++Builder中使用API编写通信程序 | 第49-50页 |
| ·通信命令格式 | 第50页 |
| ·拉压力和位移传感器的标定程序设计 | 第50-53页 |
| ·利用无线模块控制变频器的程序设计 | 第53-55页 |
| ·上位机接收无线终端数据的实现 | 第55-56页 |
| ·减振器性能测试系统的数据库管理 | 第56-60页 |
| ·C++Builder使用ADO开发数据库原理 | 第56-57页 |
| ·减振器性能测试系统的数据库设计 | 第57-60页 |
| ·上位机的应用程序发布 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 6 测试实验及结果分析 | 第62-66页 |
| ·上位机通过无线模块控制变频器实验 | 第62页 |
| ·减振器的位移和阻尼力测试实验 | 第62-64页 |
| ·减振器示功试验及结果分析 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 7 结论与展望 | 第66-68页 |
| ·结论 | 第66-67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 附录 | 第71-72页 |
| 攻读硕士研究生期间发表的学术论文及专利 | 第72页 |
