含裂纹超导体的断裂特性分析
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·选题背景与研究意义 | 第10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·超导体的实验研究现状 | 第10-12页 |
| ·超导体的理论研究现状 | 第12-13页 |
| ·本文的选题来源及研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 含中心十字形裂纹的圆柱形超导体的断裂特性 | 第15-29页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·问题描述和基本方程 | 第15-16页 |
| ·Bean模型和Kim模型简介 | 第16-22页 |
| ·Bean模型，ZFC磁化过程 | 第17-18页 |
| ·Bean模型，FC磁化过程 | 第18-19页 |
| ·Kim模型，ZFC磁化过程 | 第19-20页 |
| ·Kim模型，FC磁化过程 | 第20-22页 |
| ·数值算例和分析 | 第22-27页 |
| ·小结 | 第27-29页 |
| 第三章 含中心折裂纹的长方体超导块的断裂特性 | 第29-44页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·问题描述和基本方程 | 第29-35页 |
| ·ZFC磁化过程 | 第31-33页 |
| ·FC磁化过程 | 第33-35页 |
| ·数值结果和讨论 | 第35-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第四章 含硬币形裂纹的圆柱形超导体的断裂特性 | 第44-55页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·问题描述和基本方程 | 第44-49页 |
| ·ZFC磁化过程 | 第45-47页 |
| ·FC磁化过程 | 第47-49页 |
| ·数值结果与分析 | 第49-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第五章 含内部环形裂纹的圆柱形超导体的断裂特性 | 第55-73页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·问题描述和基本方程 | 第55-61页 |
| ·增加场 | 第56-58页 |
| ·减小场 | 第58-61页 |
| ·数值结果与讨论 | 第61-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 第六章 结论与展望 | 第73-75页 |
| ·结论 | 第73-74页 |
| ·展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附录A | 第79-80页 |
| 附录B | 第80-83页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第83-84页 |
