预变形和晶界对低碳钢烘烤硬化性能影响的机理研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 1. 绪论 | 第9-23页 |
| ·引言 | 第9页 |
| ·烘烤硬化钢的生产动态 | 第9-10页 |
| ·烘烤硬化钢简介 | 第9-10页 |
| ·烘烤硬化钢国的发展动态 | 第10页 |
| ·烘烤硬化机理及影响因素 | 第10-16页 |
| ·烘烤硬化机理 | 第10-11页 |
| ·影响烘烤硬化性能的内在因素 | 第11-12页 |
| ·影响烘烤硬化性能的外在因素 | 第12-16页 |
| ·电子背散射衍射技术（EBSD）及其应用 | 第16-18页 |
| ·电子背散射衍射技术（EBSD） | 第16-17页 |
| ·电子背散射衍射技术（EBSD）的应用 | 第17-18页 |
| ·电子探针技术（EPMA）及应用 | 第18页 |
| ·内耗测量及内耗峰 | 第18-22页 |
| ·内耗的度量 | 第19-20页 |
| ·金属材料中常见的内耗峰 | 第20-22页 |
| ·研究的目的与内容 | 第22-23页 |
| ·研究的目的 | 第22页 |
| ·研究的内容 | 第22-23页 |
| 2. 实验材料与实验方法 | 第23-30页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·实验材料 | 第23-24页 |
| ·实验方法 | 第24-30页 |
| ·退火工艺 | 第24页 |
| ·烘烤硬化值的测定 | 第24-26页 |
| ·金相组织观察 | 第26-27页 |
| ·电子背散射衍射观察及分析 | 第27-28页 |
| ·电子探针观察及测量 | 第28-29页 |
| ·内耗测量 | 第29-30页 |
| 3. 预变形量对烘烤硬化性能的影响 | 第30-36页 |
| ·预变形量对烘烤硬化性能的影响 | 第30-31页 |
| ·预变形量对晶粒形态和晶界特征分布的影响 | 第31-33页 |
| ·晶界特征分布对元素偏聚的影响 | 第33-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 4. 平均晶粒尺寸对烘烤硬化性能的影响 | 第36-43页 |
| ·退火保温时间对烘烤硬化性能的影响 | 第36-37页 |
| ·退火保温时间对晶粒形态和晶界特征分布的影响 | 第37-40页 |
| ·晶界特征分布对元素偏聚的影响 | 第40-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 5. 烘烤硬化性能的内耗研究 | 第43-51页 |
| ·预变形量对烘烤硬化性能影响的内耗研究 | 第43-48页 |
| ·不同预变形量下的内耗图谱 | 第43-45页 |
| ·不同预变形量下的内耗峰判断 | 第45-46页 |
| ·不同预变形量下的内耗峰的分析与讨论 | 第46-48页 |
| ·平均晶粒尺寸对烘烤硬化性能影响的内耗研究 | 第48-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 6. 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 作者简介 | 第56-57页 |
