基于插值和样例的超分辨率图像处理算法的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| ·超分辨率图像重建的概述及研究背景 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状及难点 | 第10-13页 |
| ·基于频率域方法的研究现状及不足 | 第11页 |
| ·基于空间域方法的研究现状及不足 | 第11-12页 |
| ·基于样例的超分辨率方法的研究现状 | 第12页 |
| ·其它方法 | 第12-13页 |
| ·图像超分辨率重建的评价指标 | 第13-15页 |
| ·论文的主要工作及章节安排 | 第15-16页 |
| 2 超分辨率图像重建的基本理论及方法 | 第16-27页 |
| ·超分辨率图像重建基本原理概述 | 第16-18页 |
| ·图像成像中的降质模型 | 第16-17页 |
| ·超分辨率图像重建的基本策略 | 第17-18页 |
| ·超分辨率图像重建的基本方法 | 第18-24页 |
| ·基于内插的超分辨率重建 | 第18-19页 |
| ·基于重建的超分辨率重建 | 第19-22页 |
| ·基于学习的超分辨率重建 | 第22-24页 |
| ·基于样例的超分辨率图像重建相关理论 | 第24-26页 |
| ·概念与算法流程 | 第24-25页 |
| ·基于样例重建思想方法的扩展 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 基于双线性插值超分辨率方法的改进 | 第27-47页 |
| ·基于插值的超分辨率图像重建相关理论 | 第27-32页 |
| ·插值法的来源 | 第27-28页 |
| ·一维插值算法的分类与解析 | 第28-32页 |
| ·超分辨率常用的插值算法 | 第32-35页 |
| ·最近邻域插值法 | 第32-33页 |
| ·双线性插值法 | 第33-34页 |
| ·双立方插值法 | 第34-35页 |
| ·本文提出的加入边缘检测的双线性插值重建算法 | 第35-45页 |
| ·图像边缘检测相关理论 | 第35-38页 |
| ·本文提出的重建算法 | 第38-43页 |
| ·增加边缘检测的双线性插值实验结果与分析 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 4 基于带邻边样例的超分辨率图像重建算法 | 第47-69页 |
| ·基于样例的超分辨率图像的重建 | 第47-55页 |
| ·马尔科夫随机场概述 | 第48-49页 |
| ·具体算法分析 | 第49-55页 |
| ·基于带邻边样例方法的改进 | 第55-64页 |
| ·实验结果及分析 | 第64-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 5 总结与展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |