| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·课题背景 | 第7-8页 |
| ·研究现状 | 第8-9页 |
| ·章节安排 | 第9-11页 |
| 第二章 FPGA的辐射影响 | 第11-19页 |
| ·空间辐射环境 | 第11-12页 |
| ·银河宇宙射线 | 第11页 |
| ·太阳宇宙射线 | 第11-12页 |
| ·地球辐射带 | 第12页 |
| ·单粒子效应的物理过程 | 第12-14页 |
| ·SRAM 型 FPGA 的单粒子效应 | 第14-15页 |
| ·常用抗辐射方法 | 第15-16页 |
| ·三模冗余加固技术 | 第15-16页 |
| ·纠错码编码加固技术 | 第16页 |
| ·基于 DICE 结构的加固技术 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-19页 |
| 第三章 Xilinx FPGA基本结构与动态重构技术 | 第19-27页 |
| ·Xilinx FPGA 基本结构 | 第19-21页 |
| ·可配置逻辑模块（CLB） | 第19-20页 |
| ·可配置输入输出模块（IOB） | 第20页 |
| ·互连资源（Interconnect） | 第20-21页 |
| ·其他资源 | 第21页 |
| ·FPGA 可编程技术的实现 | 第21-23页 |
| ·FPGA 配置端口 | 第22-23页 |
| ·配置文件与电路结构映射关系 | 第23-24页 |
| ·动态重配置技术 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第四章 基于动态重构技术的 FPGA电路容错性能评估系统 | 第27-45页 |
| ·系统概述 | 第27-28页 |
| ·系统 FPGA 部分 | 第28-29页 |
| ·重配置的实现 | 第29-40页 |
| ·内部配置访问端口 | 第30-31页 |
| ·配置信息写入与回读 | 第31-40页 |
| ·系统软件部分 | 第40-43页 |
| ·资源占用情况 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第五章 系统实验测试 | 第45-51页 |
| ·系统使用说明 | 第45-46页 |
| ·实验数据分析 | 第46-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 结束语 | 第51-53页 |
| ·研究工作总结 | 第51页 |
| ·下一步研究方向 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 研究成果 | 第57-58页 |