| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·文献综述 | 第9-11页 |
| ·研究综述 | 第9-10页 |
| ·研究评述 | 第10-11页 |
| ·主要内容和研究方法 | 第11-13页 |
| 第2章 集成电路布图设计概述 | 第13-18页 |
| ·集成电路的内涵界定 | 第13-14页 |
| ·集成电路布图设计侵权问题 | 第14-16页 |
| ·本章小结 | 第16-18页 |
| 第3章 集成电路布图设计独创性判断的一般理论 | 第18-23页 |
| ·集成电路布图设计的独创性 | 第18-20页 |
| ·集成电路布图设计的独立创作性 | 第18-19页 |
| ·集成电路布图设计反向工程的独创性 | 第19-20页 |
| ·集成电路布图设计思想/表达的划分 | 第20-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第4章 集成电路布图设计反向工程独创性判断标准 | 第23-38页 |
| ·集成电路布图设计反向工程独创性判断典型案例 | 第23-27页 |
| ·Brooktree Crop 诉 Advanced Micro Devices Inc 案 | 第23-25页 |
| ·Altera 诉 Clear logic 案 | 第25-27页 |
| ·集成电路布图设计反向工程独创性判断常用标准 | 第27-35页 |
| ·书面痕迹标准 | 第27-28页 |
| ·实质相似标准 | 第28-31页 |
| ·实质等同标准 | 第31-32页 |
| ·功能优越标准 | 第32-33页 |
| ·性能改进标准 | 第33-35页 |
| ·集成电路布图设计反向工程独创性判断的理论分析 | 第35-37页 |
| ·“选择、创新和判断”理论 | 第36页 |
| ·“收集”理论 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第5章 中国集成电路布图设计独创性认定的司法实践与建议 | 第38-47页 |
| ·中国集成电路布图设计独创性一般规定 | 第38页 |
| ·基于侵权认定的中国集成电路布图设计独创性司法判断 | 第38-42页 |
| ·华润矽威诉南京源之峰案 | 第39-40页 |
| ·天微诉明微案 | 第40-42页 |
| ·中国集成电路布图设计独创性判断的思考 | 第42-45页 |
| ·中国集成电路布图设计独创性判断举证 | 第42页 |
| ·中国集成电路布图设计独创性判断的样本比较 | 第42-43页 |
| ·中国集成电路布图设计独创性的释明义务 | 第43页 |
| ·改进的判断标准 | 第43-45页 |
| ·中国集成电路布图设计现有保护状况的一些思考 | 第45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 结束语 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 个人简历、研究生期间发表的学术论文及其他研究成果 | 第51页 |
